講演抄録/キーワード |
講演名 |
2019-08-09 14:45
高Jcプロセスを用いたSFQ論理によるディジタルSQUID磁束計の性能評価 ○板垣航希・松縄 諒・大嶋一太・長谷川雄一・成瀬雅人・田井野 徹・明連広昭(埼玉大) SCE2019-17 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2019-17 |
抄録 |
(和) |
単一磁束量子(SFQ)論理回路を用いたサブ磁束量子フィードバックを用いたディジタSQUID磁束計は非常に高いスルーレイトと広いダイナミックレンジを備えた磁束計として期待されている。臨界電流密度10 kA/cm2のNb接合プロセスを用いることにより、さらなる高速動作による高性能化が期待できる。実際のCADレイアウトを考慮した上での期待される性能を議論する。 |
(英) |
The digital SQUID with Single Flux Quantum (SFQ) logic operates as a Δ type oversampling A / D converter. Magnetic flux resolution at Nyquist frequency can be improved by taking sub feedback flux quantization and oversampling ratio large. Using high critical density Nb process for fabricating SFQ circuits, we expect more higher operation speed for the digital SQUID and resulting to higher magnetic flux resolutions. In this study, we report on the expected performance of the digital SQUID magnetometer fabricated using 10 kA/cm2 Nb process with CAD layout. |
キーワード |
(和) |
デジタルSQUID / 単一磁束量子論理 / サブ磁束量子フィードバック / ダイナミックレンジ / スルーレート / / / |
(英) |
digital SQUID / Single flux quantum circuit / high-Jc Nb process / sub-SFQ feedback / dynamic range / slew rate / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 119, no. 164, SCE2019-17, pp. 49-53, 2019年8月. |
資料番号 |
SCE2019-17 |
発行日 |
2019-08-02 (SCE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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