講演抄録/キーワード |
講演名 |
2019-11-14 15:20
コントローラ拡大とパーシャルスキャン設計を用いた遷移故障モデルのためのテスト容易化機能的k時間展開モデル生成法 ○石山悠太・細川利典・池ヶ谷祐輝(日大) VLD2019-43 DC2019-67 |
抄録 |
(和) |
テスト容易化設計手法において,高い故障検出効率を維持したまま,面積オーバヘッドやテスト実行時間の削減をすることが重要である.これを実現させるための従来手法として,パーシャルスキャン設計とコントローラ拡大を用いたレジスタ転送レベル回路における縮退故障モデルのためのテスト容易化設計法が提案された.コントローラ内の状態レジスタをスキャン設計することにより,テスト生成時にシフト動作によってコントローラの無効状態に遷移可能となる.その無効状態の状態遷移に,データパス内のハードウェア要素をテスト容易にするためのモデルであるテスト容易化機能的k時間展開モデルの動作を設計することで高い故障検出効率を達成した.本論文では,従来手法に基づく遷移故障モデルのためのテスト容易化機能的k時間展開モデル生成法を提案し,高い故障検出効率を維持したまま,面積オーバヘッドとテスト実行時間の削減を目指す. |
(英) |
One of the challenges on VLSI testing is to reduce the area overhead and test application time of design-for-testability and to maintain the high fault efficiency. To solve the challenge, a design-for-testability method for a stuck-at-faults using partial scan design and controller augmentation to execute the operations of easily testable functional k-time expansion models was proposed. In the partial scan design, state registers in controllers are replaced with scan registers. As the results, test generation is freely able to transfer to any invalid states of controllers by shifting operations. High fault efficiency was achieved by designing state transitions of invalid states such that hardware elements in a data-path circuits become testable. In this paper, we propose a method to generate easily testable functional k-time expansion models for transition faults based on the conventional design-for-testability method to reduce the area overhead and test application time and to maintain fault efficiency. |
キーワード |
(和) |
テスト容易化機能的k時間展開モデル / コントローラ拡大 / パーシャルスキャン設計 / kサイクルキャプチャテスト / 遷移故障 / / / |
(英) |
Easily testable functional k-time expansion models / Controller augmentation / Partial scan design / k-cycle capture testing / Transition faults / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 119, no. 283, DC2019-67, pp. 133-138, 2019年11月. |
資料番号 |
DC2019-67 |
発行日 |
2019-11-06 (VLD, DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
VLD2019-43 DC2019-67 |