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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2020-02-26 15:00 LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究 ○史 傑・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大）  DC2019-94 |
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| 抄録 | （和） | LSI テスト時は，通常動作より多くの信号値遷移が起こることで過度なIRドロップが発生し，LSI回路内部の信号伝搬遅延時間増加による誤テストが発生する可能性がある．一方，LSIテスト時の消費電力が低すぎると正常なテストができない場合もあり，微小遅延故障の検出が困難になる可能性がある．そのため，LSIテスト時は適切な消費電力で実施する必要がある．回路内部の消費電力を削減・増加することを消費電力制御と呼び，本研究では消費電力を制御するエリアを絞り込むことで消費電力制御率の向上を目的とし，本研究では絞り込んだエリアの信号値変化の容易性について調査した． |
| （英） | Power consumption in LSI testing is larger than in functional mode. High power consumption causes excessive IR-drop and excessive delay resulting in test malfunction. On the other hand, extremely lower power than in functional mode may reduce detectability of small delay fault. Therefore, LSI test requires appropriate power consumption. The purpose of this work is to improve controllability of power consumption in LSI testing by applying power controlling techniques in specified areas. In this work, we examine the controllability of power consumption in the specified areas. | |
| キーワード | （和） | 実速度テスト / 遷移遅延故障テスト / 誤テスト / テスト時の消費電力 / 消費電力制御 / / / |
| （英） | at-speed testing / transition delay test / test malfunction / power consumption in LSI testing / controlling test power / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 119, no. 420, DC2019-94, pp. 49-54, 2020年2月. | |
| 資料番号 | DC2019-94 | |
| 発行日 | 2020-02-19 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2019-94 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2020-02-26 - 2020-02-26 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2020-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Improving Controllability of Signal Transitions in the High Switching Area of LSI |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 実速度テスト / at-speed testing |
| キーワード(2)（和/英） | 遷移遅延故障テスト / transition delay test |
| キーワード(3)（和/英） | 誤テスト / test malfunction |
| キーワード(4)（和/英） | テスト時の消費電力 / power consumption in LSI testing |
| キーワード(5)（和/英） | 消費電力制御 / controlling test power |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 史 傑 / Jie Shi / 史 傑 |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2020-02-26 15:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2019-94 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | no.420 |
| ページ範囲 | pp.49-54 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-02-19 (DC) |
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