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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2020-02-27 14:50 CNNを用いたLSIレイアウト画像の分類手法の検討 ○村川 魁・藤田 樹・永村美一・福本 聡（首都大東京）  CPSY2019-99 DC2019-105 |
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| 抄録 | （和） | 現在，半導体集積回路 (以下，LSI) は種々の工業製品や社会インフラの構成に不可欠であり，その信頼性 を確保することは重要である.LSI に不良が生じる原因は多岐にわたるが，回路レイアウトに起因する問題が少な くない.設計基準を順守した回路レイアウトであっても製造過程で不良を発生させることがある.本研究では，LSI の不具合を予測することを目的として AI 技術を用いて回路レイアウトを解析する技術について検討した.今回は， 回路レイアウト画像を CNN(畳み込みニューラルネットワーク) で分類するにあたり，入力画像にどのような処理を 施すと精度が上がるのかを過学習という点に着目して考察した. |
| （英） | ||
| キーワード | （和） | CNN / LSI / 半導体 / 画像分類 / 人工知能 / 過学習 / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 119, no. 429, DC2019-105, pp. 69-74, 2020年2月. | |
| 資料番号 | DC2019-105 | |
| 発行日 | 2020-02-20 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2019-99 DC2019-105 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY DC IPSJ-SLDM IPSJ-EMB IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2020-02-27 - 2020-02-28 |
| 開催地（和） | 与論町中央公民館 |
| 開催地（英） | Yoron-cho Chuou-Kouminkan |
| テーマ（和） | 組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2020 |
| テーマ（英） | ETNET 2020 |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2020-02-CPSY-DC-SLDM-EMB-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | CNNを用いたLSIレイアウト画像の分類手法の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | CNN / |
| キーワード(2)（和/英） | LSI / |
| キーワード(3)（和/英） | 半導体 / |
| キーワード(4)（和/英） | 画像分類 / |
| キーワード(5)（和/英） | 人工知能 / |
| キーワード(6)（和/英） | 過学習 / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 村川 魁 / / ムラカワ カイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) (略称： ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤田 樹 / / フジタ イツキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) (略称： ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永村 美一 / / |
| 第3著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) (略称： ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 福本 聡 / / フクモト サトシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2020-02-27 14:50:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2019-99, DC2019-105 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | no.428(CPSY), no.429(DC) |
| ページ範囲 | pp.69-74 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-02-20 (CPSY, DC) |
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