研究会情報 |
研究会 |
EMT IEE-EMT |
開催期間 |
2020-05-22 - 2020-05-22 |
開催地(和) |
東京都立大学 秋葉原サテライトキャンパス |
開催地(英) |
Tokyo Metropolitan Univ., Akihabara Satellite Campus |
テーマ(和) |
電磁界理論一般 |
テーマ(英) |
Electromagnetic Theory, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
EMT |
会議コード |
2020-05-EMT-EMT |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
ニューラルネットワークとホログラムを用いた凹凸欠陥の識別システム |
サブタイトル(和) |
欠陥幅に依らない識別システムへの拡張 |
タイトル(英) |
Concave-convex discrimination of surface defect using neural network and holograms |
サブタイトル(英) |
Extension to discrimination independent of defect width |
キーワード(1)(和/英) |
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キーワード(2)(和/英) |
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キーワード(3)(和/英) |
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キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
有馬 秀三朗 / Shusaburo Arima / アリマ シュウサブロウ |
第1著者 所属(和/英) |
北見工業大学 (略称: 北見工大)
Kitami Institute of Technology (略称: Kitami Inst. Tech.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
杉坂 純一郎 / Jun-ichiro Sugisaka / スギサカ ジュンイチロウ |
第2著者 所属(和/英) |
北見工業大学 (略称: 北見工大)
Kitami Institute of Technology (略称: Kitami Inst. Tech.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
田口 健治 / Kenji Taguchi / タグチ ケンジ |
第3著者 所属(和/英) |
北見工業大学 (略称: 北見工大)
Kitami Institute of Technology (略称: Kitami Inst. Tech.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第4著者 所属(和/英) |
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第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 所属(和/英) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 所属(和/英) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2020-05-22 12:20:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
EMT |
資料番号 |
EMT2020-3 |
巻番号(vol) |
vol.120 |
号番号(no) |
no.33 |
ページ範囲 |
pp.13-18 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2020-05-15 (EMT) |