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講演抄録/キーワード
講演名 2020-07-21 10:00
ラッチを用いた物理乱数生成器の乱数の性能評価
鳥居直哉・○大前 ケビン 秀明創価大ISEC2020-24 SITE2020-21 BioX2020-27 HWS2020-17 ICSS2020-11 EMM2020-21
抄録 (和) 近年,IoTデバイスが急速に増加している.IoTデバイスの安全な鍵生成やナンスの生成のためには,物理乱数生成器(TRNG)が適している.TRNGの生成する乱数は,安全な乱数の要件である予測不可能性を満たしているからである.また,TRNGが生成する乱数系列は,高いエントロピーを持つことが必要である.これらを実現するために様々なTRNGの構成方法が提案されてきている.乱数系列の評価は,TRNGが安定した後での評価が一般的である.更に,IoTデバイスでは,TRNGはスタートアップした直後から高いエントロピーを持つ事が期待されている.
本稿では,TRNGの例として従来から高いエントロピーを持つTRNGとして知られているラッチベースTRNG(L-TRNG)をZynq-7010上で実装し,SP800-90B,及びAIS20/30により安定時のエントロピーを評価した.さらに,起動直後の乱数系列について統計評価を行い,L-TRNGは,起動直後から良い乱数を生成できることを示した. 
(英) The use of a physical random number generator (TRNG) is suitable for secure key generation of IoT devices and secure nonce generation. This is because the random numbers generated by TRNG satisfy the unpredictability that is a requirement for secure random numbers. In addition, the random number sequence generated by TRNG must have high entropy. Various TRNG construction methods have been proposed to realize these. These random numbers are generally evaluated after TRNG becomes stable. In addition, for IoT devices, TRNG is required to have high entropy immediately after startup.
In this paper, we implemented a TRNG using latches (L-TRNG) known as TRNG with high entropy on Zynq-7010 as an example of TRNG, and evaluated entropy by SP800-90B and AIS20/30 at a stable state. Furthermore, statistical evaluation was performed immediately after startup, and it was shown that L-TRNG can generate good random numbers from startup.
キーワード (和) 物理乱数生成器 / TRNG / ヘルステスト / SP800-90B / AIS20/31 / / /  
(英) true random number generator / TRNG / health test / SP800-90B / AIS20/31 / / /  
文献情報 信学技報, vol. 120, no. 115, HWS2020-17, pp. 69-74, 2020年7月.
資料番号 HWS2020-17 
発行日 2020-07-13 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ISEC2020-24 SITE2020-21 BioX2020-27 HWS2020-17 ICSS2020-11 EMM2020-21

研究会情報
研究会 SITE ISEC HWS EMM BioX IPSJ-CSEC IPSJ-SPT ICSS 
開催期間 2020-07-20 - 2020-07-21 
開催地(和) オンライン開催 
開催地(英) Online 
テーマ(和) セキュリティ、一般 
テーマ(英) Security, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 HWS 
会議コード 2020-07-SITE-ISEC-HWS-EMM-BioX-CSEC-SPT-ICSS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ラッチを用いた物理乱数生成器の乱数の性能評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Performance Evaluation of True Random Number Generator Using Latches 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 物理乱数生成器 / true random number generator  
キーワード(2)(和/英) TRNG / TRNG  
キーワード(3)(和/英) ヘルステスト / health test  
キーワード(4)(和/英) SP800-90B / SP800-90B  
キーワード(5)(和/英) AIS20/31 / AIS20/31  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鳥居 直哉 / Naoya Torii / トリイ ナオヤ
第1著者 所属(和/英) 創価大学 (略称: 創価大)
Soka University (略称: Soka Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大前 ケビン 秀明 / Hideaki Kevin Omae / オオマエ ケビン ヒデアキ
第2著者 所属(和/英) 創価大学 (略称: 創価大)
Soka University (略称: Soka Univ.)
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講演者 第2著者 
発表日時 2020-07-21 10:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 HWS 
資料番号 ISEC2020-24, SITE2020-21, BioX2020-27, HWS2020-17, ICSS2020-11, EMM2020-21 
巻番号(vol) vol.120 
号番号(no) no.112(ISEC), no.113(SITE), no.114(BioX), no.115(HWS), no.116(ICSS), no.117(EMM) 
ページ範囲 pp.69-74 
ページ数
発行日 2020-07-13 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) 


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