研究会情報 |
研究会 |
R |
開催期間 |
2020-11-30 - 2020-11-30 |
開催地(和) |
オンライン開催 |
開催地(英) |
Online |
テーマ(和) |
半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 |
テーマ(英) |
Reliability of semiconductor and electronic devices, Reliability general |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
R |
会議コード |
2020-11-R |
本文の言語 |
英語(日本語タイトルあり) |
タイトル(和) |
E/E/PE安全関連系ソフトウェアに対する安全度評価に関する一考察 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
On Software Safety Integrity Assessment for E/E/PE Safety-Related Systems |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
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キーワード(2)(和/英) |
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キーワード(3)(和/英) |
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キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
井上 真二 / Shinji Inoue / イノウエ シンジ |
第1著者 所属(和/英) |
関西大学 (略称: 関西大)
Kansai University (略称: Kansai Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
藤原 隆次 / Takaji Fujiwara / フジワラ タカジ |
第2著者 所属(和/英) |
SRATECH Laboratory Inc. (略称: SRATECH Lab. Inc.)
SRATECH Laboratory Inc. (略称: SRATECH Lab. Inc.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
山田 茂 / Shigeru Yamada / ヤマダ シゲル |
第3著者 所属(和/英) |
鳥取大学 (略称: 鳥取大)
Tottori University (略称: Tottori Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第4著者 所属(和/英) |
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第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 所属(和/英) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 所属(和/英) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 所属(和/英) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 所属(和/英) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 所属(和/英) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 所属(和/英) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 所属(和/英) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2020-11-30 13:25:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
R |
資料番号 |
R2020-24 |
巻番号(vol) |
vol.120 |
号番号(no) |
no.267 |
ページ範囲 |
pp.7-12 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2020-11-23 (R) |