| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2020-12-11 13:00 勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について ○森 誠一郎・権藤昌之・三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大）  DC2020-59 |
|
| 抄録 | （和） | 最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の発生が懸念されており，高信頼システムに使用される場合，回路の劣化による故障が発生する時期を予測し，故障発生前に対処可能にすることが求められる．本研究では，代表的な劣化現象である回路遅延の増加をオンチップ遅延測定によって捕らえ，将来の回路遅延の劣化度合いを予測する手法を提案する．提案手法では，劣化シミュレーションや長期信頼性試験，代表チップを用いた予備実験で得られる回路遅延値から初期の予測モデルを作成し，個々のチップに対して実際の測定値に基づくオフセット補正及び勾配降下法を用いた動的なモデル更新により，製造ばらつきや運用状況の差異を反映した劣化予測を行う．実チップの劣化加速試験のデータを用いた評価実験から，提案手法は，製造ばらつきや運用状況の差異による劣化傾向の変化に対応した遅延劣化の予測モデルを構築できることを示す． |
| （英） | As the risk of aging-induced faults of VLSIs is increasing, highly reliable systems require to predict when the aging-induced faults will occur and to avoid a system failure. In this work, we propose an aging prediction method for logic circuits, in which on-chip delay measurement scheme catches delay degradation that is representative aging phenomenon. The proposed method creates an initial prediction model from circuit delay with degradation simulation, accelerated life test, circuit delay measured by preliminary experiment, and predicts circuit delay of each manufactured circuit with offset correction and adaptive model updates. Experimental results by accelerated life test for sample chips show that the proposed method enables construction of a prediction model reflecting change of degradation tendency due to operating environment with less impact by manufacturing variation. | |
| キーワード | （和） | フィールドテスト / 遅延測定 / 劣化予測 / 機械学習 / 勾配降下法 / / / |
| （英） | Field test / Delay measurement / Degradation prediction / Machine learning / Gradient descent / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 120, no. 288, DC2020-59, pp. 1-6, 2020年12月. | |
| 資料番号 | DC2020-59 | |
| 発行日 | 2020-12-04 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2020-59 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2020-12-11 - 2020-12-11 |
| 開催地（和） | 洲本市文化体育館 （淡路島） |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | (第5回） Winter Workshop on Safety（安全性に関する冬のワークショップ） - （共催：日本信頼性学会） |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2020-12-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Degradation Prediction of Circuit Delay Using A Gradient Descent Method |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | フィールドテスト / Field test |
| キーワード(2)（和/英） | 遅延測定 / Delay measurement |
| キーワード(3)（和/英） | 劣化予測 / Degradation prediction |
| キーワード(4)（和/英） | 機械学習 / Machine learning |
| キーワード(5)（和/英） | 勾配降下法 / Gradient descent |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森 誠一郎 / Seiichirou Mori / モリ セイイチロウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 権藤 昌之 / Masayuki Gondou / ゴンドウ マサユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三宅 庸資 / Yousuke Miyake / ミヤケ ヨウスケ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 加藤 隆明 / Takaaki Kato / カトウ タカアキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2020-12-11 13:00:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2020-59 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | no.288 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-12-04 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]