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講演抄録/キーワード
講演名 2021-01-25 10:55
DC-DCコンバータの経年劣化検出について
古賀泰之長崎総合科学大)・古川雄大福岡大)・梶原一宏松井信正黒川不二雄長崎総合科学大)・中島善康米澤 遊富士通アドバンストテクノロジEE2020-27
抄録 (和) 近年,情報通信サービスは発展を続けており,電力供給部分においても通信サービスを発展させるための一つの課題となっている.また,情報通信用に用いられているスイッチング電源は絶え間なく動作を続けているため,スイッチング電源には第一条件として高い信頼性が必要となっている.本論文では,高い信頼性を実現するために,DC-DCコンバータの内部抵抗を推定する劣化診断手法を提案する.提案方式は,ディジタルPID制御器の積分演算値を用いることにより,オン時間の検出では難しい場合でも劣化診断および故障予測を実現することができる. 
(英) In recent years, information and communication services have continued to develop, and the power supply is one of their issues. The switching power supply in this application continues to operate continuously and is needed high reliability as the first condition. In this paper, the degradation diagnosis method to estimate the internal resistance of DC-DC converters is proposed to achieve high reliability. In the proposed method, degradation diagnosis and fault prediction can be achieved by using the integral calculation value of digital PID controller, even when it is difficult to detect the on-time.
キーワード (和) DC-DCコンバータ / 劣化診断 / ディジタル制御 / / / / /  
(英) DC-DC converter / Degradation Diagnosis / Digital Control / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 120, no. 340, EE2020-27, pp. 22-26, 2021年1月.
資料番号 EE2020-27 
発行日 2021-01-18 (EE) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EE2020-27

研究会情報
研究会 EE  
開催期間 2021-01-25 - 2021-01-25 
開催地(和) オンライン開催 (Zoom) 
開催地(英) Online (Zoom) 
テーマ(和) 回路技術及び高効率エネルギー変換技術関連、一般 
テーマ(英) DC/DC converter, New circuit for power conversion and control, others 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EE 
会議コード 2021-01-EE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) DC-DCコンバータの経年劣化検出について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Aged Deterioration Detection of DC-DC Converter 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) DC-DCコンバータ / DC-DC converter  
キーワード(2)(和/英) 劣化診断 / Degradation Diagnosis  
キーワード(3)(和/英) ディジタル制御 / Digital Control  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 古賀 泰之 / Yasuyuki Koga / コガ ヤスユキ
第1著者 所属(和/英) 長崎総合科学大学 (略称: 長崎総合科学大)
Nagasaki Institute of Applied Science (略称: NiAS)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 古川 雄大 / Yudai Furukawa / フルカワ ユウダイ
第2著者 所属(和/英) 福岡大学 (略称: 福岡大)
Fukuoka University (略称: Fukuoka University)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 一宏 / Kazuhiro Kajiwara / カジワラ カズヒロ
第3著者 所属(和/英) 長崎総合科学大学 (略称: 長崎総合科学大)
Nagasaki Institute of Applied Science (略称: NiAS)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 松井 信正 / Nobumasa Matsui / マツイ ノブマサ
第4著者 所属(和/英) 長崎総合科学大学 (略称: 長崎総合科学大)
Nagasaki Institute of Applied Science (略称: NiAS)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 黒川 不二雄 / Fujio Kurokawa / クロカワ フジオ
第5著者 所属(和/英) 長崎総合科学大学 (略称: 長崎総合科学大)
Nagasaki Institute of Applied Science (略称: NiAS)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 中島 善康 / Yoshiyasu Nakashima / ナカシマ ヨシヤス
第6著者 所属(和/英) 富士通アドバンストテクノロジ株式会社 (略称: 富士通アドバンストテクノロジ)
FUJITSU Advanced Technology Limited (略称: FUJITSU Advanced Technology)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 米澤 遊 / Yu Yonezawa / ヨネザワ ユウ
第7著者 所属(和/英) 富士通アドバンストテクノロジ株式会社 (略称: 富士通アドバンストテクノロジ)
FUJITSU Advanced Technology Limited (略称: FUJITSU Advanced Technology)
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講演者 第1著者 
発表日時 2021-01-25 10:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EE 
資料番号 EE2020-27 
巻番号(vol) vol.120 
号番号(no) no.340 
ページ範囲 pp.22-26 
ページ数
発行日 2021-01-18 (EE) 


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