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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2021-03-02 09:40 ［依頼講演］遅延発光法によるOLED解析 ○高田徳幸・奥本 肇（産総研）  OME2020-26 |
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| 抄録 | （和） | Alq3有機EL素子に遅延発光法を適用することで、印加電圧オフ後10ms～約10分間におよび持続する発光のスペクトル計測に成功した。非常に微弱な発光を検出するため、高感度なフーリエ変換型干渉分光計を用いた。1μs～数msの比較的短い遅延時間帯では、通常（定常状態）観測されるELスペクトルとほぼ一致した。これは、三重項-三重項消滅（TTA）由来の遅延蛍光が生じていることを示唆している。一方、10msの遅延時間を越えると、蛍光スペクトルとは明らかに異なる長波長シフトした発光スペクトルが得られた。この発光は、深いトラップ準位を経由した電荷再結合に起因していると考えられる。フリーな電荷の再結合とは異なり、Alq3分子のS1準位形成に必要なエネルギーを供給できず、T1準位のみが励起されたと考えている。 |
| （英） | By applying the delayed emission method to the Alq3 organic EL device, we succeeded in measuring the emission spectrum with a delay time exceeding 10ms ~ about 10 minutes after the applied voltage was turned off. Due to detect remarkable weak light, we have utilized a highly sensitive Fourier transform interference spectrometer. The emission spectra measured at a short delay time less than 10ms were almost the same as the steady-state EL spectrum. This fact suggests the formation of delayed-fluorescence via triplet-triplet annihilation. On the other hand, when the delay time exceeds 10ms, a red-shifted emission spectrum clearly different from the fluorescence spectrum was obtained. This emission would be produced by charge recombination at the deep trap state. Unlike free-charge recombination, it cannot provide the energy required for S1 level formation, but it suggests that the T1 level can be excited. | |
| キーワード | （和） | 遅延発光 / フーリエ変換型干渉分光計 / 燐光 / 電荷再結合 / 電荷トラップ / / / |
| （英） | delayed emission / FT interferometer / phosphorescence / charge-recombination / charge trap / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 120, no. 383, OME2020-26, pp. 28-30, 2021年3月. | |
| 資料番号 | OME2020-26 | |
| 発行日 | 2021-02-22 (OME) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | OME2020-26 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME IEE-DEI |
| 開催期間 | 2021-03-01 - 2021-03-02 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 有機材料・薄膜、有機デバイス、一般 |
| テーマ（英） | Organic Molecular Electronics |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | OME |
| 会議コード | 2021-03-OME-DEI |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 遅延発光法によるOLED解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis of OLEDs using delayed luminescence method |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遅延発光 / delayed emission |
| キーワード(2)（和/英） | フーリエ変換型干渉分光計 / FT interferometer |
| キーワード(3)（和/英） | 燐光 / phosphorescence |
| キーワード(4)（和/英） | 電荷再結合 / charge-recombination |
| キーワード(5)（和/英） | 電荷トラップ / charge trap |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高田 徳幸 / Noriyuki Takada / タカダ ノリユキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 奥本 肇 / Hajime Okumoto / オクモト ハジメ |
| 第2著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2021-03-02 09:40:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | OME |
| 資料番号 | OME2020-26 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | no.383 |
| ページ範囲 | pp.28-30 |
| ページ数 | 3 |
| 発行日 | 2021-02-22 (OME) |
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