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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2021-03-08 14:20 電磁コンタクタの接触抵抗の連続開閉試験 ○須藤義宏・千葉康平・澤 孝一郎・吉田 清（日本工大）  EMD2020-32 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2020-32 |
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| 抄録 | （和） | 本研究ではDC5Vで小さい電流を通電した時の接触抵抗を自動測定した。実験では、通電電流による接触抵抗への影響を調べるために、3mA，10mA，50mA，100mAの負荷電流で10万回の開閉試験を行った。また、測定精度を確認したところ、測定誤差は±5%以内であることを確認した。実験では、主回路に使用される単子接点と補助接点として使用される双子接点を電磁コンタクタに2個ずつ設置した。実験の結果、電流が増加すると接触抵抗の変動が小さくなった。双子接点の接触抵抗は変動が小さく安定していることが確認できた。単子接点では、接触抵抗は10mA以下で大きく不安定であったが、50mA以上では抵抗値が小さく安定した。 |
| （英） | In this study, the contact resistance when a small current was applied at DC5V, was automatically measured. In the experiment, the effect of the current value on the contact resistance was investigated. The current was set to 3-100mA. The continuous opening / closing test was performed up to 100,000 times. The measurement error of the assumed system was within ± 5%. In the experiment, two single contacts for the main circuit and two twin contacts for the auxiliary contacts were measured at the same time. The fluctuation of the contact resistance of the twin contacts was small and stable. On the other hand, the contact resistance of the single contact was significantly unstable at 10mA or less. At 50mA and above, the resistance value was small and stable. | |
| キーワード | （和） | LabVIEW / 電気接点 / 電磁コンタクタ / 単子接点 / 双子接点 / 接触抵抗 / / |
| （英） | LabVIEW / Electrical Contact / Electromagnetic Contactor / Single Contact / Twin Contact / Contact Resistance / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 120, no. 425, EMD2020-32, pp. 18-22, 2021年3月. | |
| 資料番号 | EMD2020-32 | |
| 発行日 | 2021-03-01 (EMD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2020-32 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2020-32 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2021-03-08 - 2021-03-08 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | ショートノート（卒論・修論特集） |
| テーマ（英） | Short NOTE |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2021-03-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電磁コンタクタの接触抵抗の連続開閉試験 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Continuous open and close test of contact resistance of electromagnetic contactor |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | LabVIEW / LabVIEW |
| キーワード(2)（和/英） | 電気接点 / Electrical Contact |
| キーワード(3)（和/英） | 電磁コンタクタ / Electromagnetic Contactor |
| キーワード(4)（和/英） | 単子接点 / Single Contact |
| キーワード(5)（和/英） | 双子接点 / Twin Contact |
| キーワード(6)（和/英） | 接触抵抗 / Contact Resistance |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 須藤 義宏 / Yoshihiro Sudo / スドウ ヨシヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 千葉 康平 / Kohei Chiba / チバ コウヘイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉田 清 / Kiyoshi Yoshida / ヨシダ キヨシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： NIT) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2021-03-08 14:20:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2020-32 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | no.425 |
| ページ範囲 | pp.18-22 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2021-03-01 (EMD) |
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