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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2021-03-26 11:40 コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法 ○飯塚恭平・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）  CPSY2020-63 DC2020-93 |
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| 抄録 | （和） | 近年，VLSIの微細化，高速化，電源電圧の低下に伴い，遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている．しかしながら，遷移故障のテスト生成では、一般にVLSIの回路構造と機能に起因する多くのテスト不能故障が同定される．目標故障がテスト不能である場合、その場所をカバーするテストが欠落する．その結果，欠陥が検出可能であっても，テスト集合はその場所周辺の欠陥を検出しない可能性がある．それゆえ，遷移故障モデルにおける故障検出率向上のためのテスト容易化設計が重要である．コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当ての指標として,QDT値が提案されている．本論文は，拡張QDT値を用いて状態レジスタ間の活性化可能な経路数を増大させるために，コントローラに追加状態遷移を挿入する手法を提案する．MCNC’91ベンチマーク回路に対する実験結果は，提案手法の適用によって遷移故障検出率が向上したことを示す． |
| （英） | With shrinking feature sizes, growing clock frequencies, and decreasing power supply voltage, modern VLSIs are increasingly suffering from the impact of timing related defects. Therefore, transition fault testing is necessary. However, test generation for transition faults generally identifies many untestable faults due to the circuit structures and functions of VLSIs. When a target fault is untestable, a test that would have covered its site is missing from the test set. As a result, the test set might not detect defects around this site, even if the defects are detectable. Therefore, design-for-testability to improve transition fault coverage is very important. QDT value were proposed as testability measure of transition fault testing for state assignments of controllers. This paper proposes a method to insert additional state transitions into controllers using extended QDT value to increase the number of sensitizable paths between state registers. Experimental results for the MCNC'91 benchmark circuits show that transition fault coverage for controllers was improved by applying our proposed method. | |
| キーワード | （和） | 遷移故障 / コントローラ拡大 / QDT値 / 状態遷移 / / / / |
| （英） | transition faults / controller augmentation / QDT value / state transitions / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 120, no. 436, DC2020-93, pp. 79-84, 2021年3月. | |
| 資料番号 | DC2020-93 | |
| 発行日 | 2021-03-18 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2020-63 DC2020-93 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY DC IPSJ-SLDM IPSJ-EMB IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2021-03-25 - 2021-03-26 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2021 |
| テーマ（英） | ETNET2021 |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2021-03-CPSY-DC-SLDM-EMB-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Controller Augmentation method to Improving Transition Fault Coverage |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遷移故障 / transition faults |
| キーワード(2)（和/英） | コントローラ拡大 / controller augmentation |
| キーワード(3)（和/英） | QDT値 / QDT value |
| キーワード(4)（和/英） | 状態遷移 / state transitions |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 飯塚 恭平 / Kyohei Iizuka / イイヅカ キョウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 京都産業大学 (略称： 京都産大) Kyoto Sangyo University (略称： Kyoto Sangyo Univ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2021-03-26 11:40:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2020-63, DC2020-93 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | no.435(CPSY), no.436(DC) |
| ページ範囲 | pp.79-84 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-03-18 (CPSY, DC) |
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