講演抄録/キーワード |
講演名 |
2021-05-26 14:10
[招待講演]グローバルシャッタ型CMOSテラヘルツイメージセンサの利得・応答性のバラツキ補正機構 ○池辺将之・平田悠馬・鎌田夏実・金澤悠里(北大) MWP2021-2 エレソ技報アーカイブへのリンク:MWP2021-2 |
抄録 |
(和) |
グローバルシャッタ型CMOSテラヘルツイメージセンサに向けた,利得の画素バラツキ補正機構を提案する.テラヘルツ波を受信しMOSFETによって包絡線検波を行う際,製造バラツキの影響で画素ごとに利得の変動が生じる.我々は検波用MOSFETの動作点と応答性を決定する電流源を,基板電位にバイアスされたMOSFETに流れる微小電流を用いて校正し,全ての画素で同時に利得バラツキを抑える方法を提案する.適切に動作点を決定することで,利得の変動を抑えられることを確認した. |
(英) |
This study proposes a technique to compensate for pixel variation in gain of a global-shutter CMOS terahertz image sensor. When receiving terahertz waves and performing envelope detection using MOSFETs, the gain of each pixel fluctuates due to manufacturing variations. Here, we try to implement a method for simultaneously suppressing the gain variation in all pixels by calibrating the current source that determines the operating point and response of the detection MOSFET using a small current flowing in the MOSFET biased to the substrate potential. It is confirmed that the gain variation can be suppressed by properly determining the operating point. |
キーワード |
(和) |
テラヘルツ / イメージセンサ / ピクセル並列 / グローバルシャッタ / 製造バラツキ / / / |
(英) |
terahertz wave / image sensor / pixel parallel / global shutter / product variation / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 121, no. 39, MWP2021-2, pp. 6-9, 2021年5月. |
資料番号 |
MWP2021-2 |
発行日 |
2021-05-19 (MWP) |
ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
MWP2021-2 エレソ技報アーカイブへのリンク:MWP2021-2 |