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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2021-06-22 16:50 アプリケーション特性に起因するTaOx ReRAMセルの信頼性ばらつきを許容する高速ストレージ ○松井千尋・竹内 健（東大）  SDM2021-27 |
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| 抄録 | （和） | ストレージアプリケーションに起因してTaOx ReRAMセルにはさまざまなエラーが発生するため，エラーを訂正するためにストレージ性能が低下する．ReRAMメモリデバイスで発生するエラーをシステム・回路・デバイスの各レベルで許容し，高速化する手法を提案する．その結果，ストレージ性能7倍，消費エネルギー90%削減，メモリセル面積8.5%削減した． |
| （英） | Storage application induces various types or errors in TaOx ReRAM cells and the storage performance degrades. To improve storage performance, this paper proposes a method to tolerate errors in ReRAM devices at each system, circuit, and device level. As a result, storage performance improves by 7.0 times, energy consumption and memory cell area is reduced by 90% and 8.5%, respectively. | |
| キーワード | （和） | ReRAM / 信頼性 / ストレージ / / / / / |
| （英） | ReRAM / Reliability / Storage / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 121, no. 71, SDM2021-27, pp. 21-22, 2021年6月. | |
| 資料番号 | SDM2021-27 | |
| 発行日 | 2021-06-15 (SDM) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SDM2021-27 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SDM |
| 開催期間 | 2021-06-22 - 2021-06-22 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | MOSデバイス・メモリ高性能化－材料・プロセス技術 （応用物理学会 シリコンテクノロジー分科会との合同開催） |
| テーマ（英） | Material Science and Process Technology for MOS Devices and Memories |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SDM |
| 会議コード | 2021-06-SDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | アプリケーション特性に起因するTaOx ReRAMセルの信頼性ばらつきを許容する高速ストレージ |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Application-induced TaOx ReRAM Cell Reliability Variation Tolerated High-speed Storage |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ReRAM / ReRAM |
| キーワード(2)（和/英） | 信頼性 / Reliability |
| キーワード(3)（和/英） | ストレージ / Storage |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松井 千尋 / Chihiro Matsui / マツイ チヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of aTokyo (略称： Univ. Tokyo) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 竹内 健 / Ken Takeuchi / タケウチ ケン |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of aTokyo (略称： Univ. Tokyo) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2021-06-22 16:50:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | SDM |
| 資料番号 | SDM2021-27 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | no.71 |
| ページ範囲 | pp.21-22 |
| ページ数 | 2 |
| 発行日 | 2021-06-15 (SDM) |
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