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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2021-10-07 13:50 光変調散乱素子を用いた高周波電界計測システムのFDTD法による性能評価 ○黒澤孝裕（秋田県産技センター）  EMCJ2021-34 MW2021-46 EST2021-36 |
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| 抄録 | （和） | 半導体を散乱体とした光変調散乱素子を用いた高周波電界計測システムについて，円板形状の散乱体から生じる変調散乱波強度と散乱体物性や寸法との関係を FDTD シミュレーションにより解析した．光照射に伴う散乱体の導電率変化量および散乱体寸法と変調散乱波強度との関係を求めるとともに，散乱体の全断面積を用いて侵襲性を評価した．その結果，実測の周波数特性をおおむね再現できた．高感度を得るためには，光照射時の散乱体導電率を増加させること，および，散乱体の全厚を減少させることが有効であった．特に散乱体の全厚減少は侵襲性も低減可能であり，測定システムの性能向上に効果的である．また，散乱体直径の増加によっても高感度化を図れるが，同 時に侵襲性も悪化することを明らかにした． |
| （英） | Microwave electric field measurement system based on the modulated scattering technique with optically modulated semiconductor scatterer is analyzed by using FDTD method. The sensitivity and invasiveness are calculated from the modulation amplitude of forward scattering field with resistivity modulation of the disk scatterer and calculated from total cross section of it, respectively. Increasing the resistivity modulation amplitude and decrease the thickness of the scatterer is effective for increasing the sensitivity. Increasing the diameter of scatterer also increase the sensitivity while it increases the invasiveness. | |
| キーワード | （和） | 電界計測 / 変調散乱 / FDTD / EMC / / / / |
| （英） | electric field measurement / modulated scattering / FDTD / EMC / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 121, no. 186, EMCJ2021-34, pp. 35-39, 2021年10月. | |
| 資料番号 | EMCJ2021-34 | |
| 発行日 | 2021-09-30 (EMCJ, MW, EST) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2021-34 MW2021-46 EST2021-36 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EST MW EMCJ IEE-EMC |
| 開催期間 | 2021-10-07 - 2021-10-08 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | EMC一般/マイクロ波/電磁界シミュレーション |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2021-10-EST-MW-EMCJ-EMC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 光変調散乱素子を用いた高周波電界計測システムのFDTD法による性能評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | FDTD Analysis of the Microwave Measurement System with Optically Modulated Scatterer |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電界計測 / electric field measurement |
| キーワード(2)（和/英） | 変調散乱 / modulated scattering |
| キーワード(3)（和/英） | FDTD / FDTD |
| キーワード(4)（和/英） | EMC / EMC |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 黒澤 孝裕 / Takahiro Kurosawa / クロサワ タカヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 秋田県産業技術センター (略称： 秋田県産技センター) AKITA Industrial Technology Center (略称： Akita ITC) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2021-10-07 13:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2021-34, MW2021-46, EST2021-36 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | no.186(EMCJ), no.187(MW), no.188(EST) |
| ページ範囲 | pp.35-39 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2021-09-30 (EMCJ, MW, EST) |
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