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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2021-11-30 14:25 ソフトウェア信頼度成長モデルに基づくフォールトの修正待ち行列シミュレーション ○南野友香（鳥取大）・井上真二（関西大）・山田 茂（鳥取大）  R2021-37 |
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| 抄録 | （和） | ソフトウェア信頼性評価では，データ収集が比較的容易なことから，フォールト発見数データが多く使用される．しかし，フォールト発見数データではフォールト発見時刻や修正時間といった情報が含まれず，テストの進捗や効率の評価を十分に行うことができない．本研究では，この問題を解決するための1つの手法として，thinning algorithmを用いてフォールト発見時刻のサンプルデータを生成し，フォールトが修正されるまでの待ち時間の推移を示す． |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | ソフトウェア信頼度成長モデル / チェンジポイント / 間引き法 / 待ち行列 / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 121, no. 276, R2021-37, pp. 19-23, 2021年11月. | |
| 資料番号 | R2021-37 | |
| 発行日 | 2021-11-23 (R) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2021-37 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2021-11-30 - 2021-11-30 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 |
| テーマ（英） | Reliability of semiconductor and electronic devices, Reliability ge |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2021-11-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ソフトウェア信頼度成長モデルに基づくフォールトの修正待ち行列シミュレーション |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Queueing simulation of faults correction based on software reliability growth models |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトウェア信頼度成長モデル / |
| キーワード(2)（和/英） | チェンジポイント / |
| キーワード(3)（和/英） | 間引き法 / |
| キーワード(4)（和/英） | 待ち行列 / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 南野 友香 / Yuka Minamino / ミナミノ ユカ |
| 第1著者 所属（和/英） | 鳥取大学 (略称： 鳥取大) Tottori University (略称： Tottori Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 真二 / Shinji Inoue / イノウエ シンジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 関西大学 (略称： 関西大) Kansai University (略称： Kansai Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山田 茂 / Shigeru Yamada / ヤマダ シゲル |
| 第3著者 所属（和/英） | 鳥取大学 (略称： 鳥取大) Tottori University (略称： Tottori Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2021-11-30 14:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2021-37 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | no.276 |
| ページ範囲 | pp.19-23 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2021-11-23 (R) |
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