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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2022-04-15 13:30 異なるPowered ESD試験方法による100BASE-T1の通信品質劣化への影響 ○中谷透也・矢野佑典・王 建青（名工大）・石田武志（ノイズ研）  EMCJ2022-2 |
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| 抄録 | （和） | 国際電気標準会議(IEC)では，車載機器内のEthernetトランシーバICに対するイミュニティの評価方法の標準化が進められ，その中でESD(Electrostatic Discharge)に対するイミュニティを評価するPowered ESD試験が要求されている．Powered ESD試験では妨害波印加方法としてESDガンが用いられるが，その再現性に懸念がある．本研究では，ESDガンの代替として放電の再現性が高いとされるTLP-HMM (Transmission line pulse-human metal model)，CR-HMM (Capacitance resistance-human metal model)を用いる可能性を検討するために，3種類のPowered ESD試験方法がそれぞれ100BASE-T1の通信品質劣化に与える影響を実験的に評価し，TLP-HMMとCR-HMMによるESDガンの代替可能性を検討した． |
| （英） | IEC (International Electrotechnical Commission) has been working on the standardization of immunity evaluation methods for Ethernet transceiver ICs in automotive equipment, and the powered ESD (Electrostatic discharge) test is required for immunity evaluation of ESD. However, there is concern about the reproducibility of the ESD-gun generated disturbance in the powered ESD test. In this study, we investigate the possibility of using TLP-HMM (Transmission line pulse-human metal model) and CR-HMM (Capacitance resistance-human metal model), that are considered to have high reproducibility of discharge, as alternatives to ESD guns. We experimentally evaluated the effects of the three different disturbance application methods on frame error rate degradation of 100BASE-T1 IC in Powered ESD test, and showed the rudimentary potential of TLP-HMM and CR-HMM as an alternative to ESD gun. | |
| キーワード | （和） | 車載Ethernet / 100BASE-T1 / 通信品質 / イミュニティ / powered ESD試験 / TLP / / |
| （英） | Vehicle ethernet / 100BASE-T1 / communication quality / immunity / powered ESD test / TLP / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 4, EMCJ2022-2, pp. 7-12, 2022年4月. | |
| 資料番号 | EMCJ2022-2 | |
| 発行日 | 2022-04-08 (EMCJ) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2022-2 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2022-04-15 - 2022-04-15 |
| 開催地（和） | 沖縄県市町村自治会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | EMC一般 |
| テーマ（英） | EMC |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2022-04-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 異なるPowered ESD試験方法による100BASE-T1の通信品質劣化への影響 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Impact of Different Powered ESD Methods on 100BASE-T1 Communication Quality Degradation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 車載Ethernet / Vehicle ethernet |
| キーワード(2)（和/英） | 100BASE-T1 / 100BASE-T1 |
| キーワード(3)（和/英） | 通信品質 / communication quality |
| キーワード(4)（和/英） | イミュニティ / immunity |
| キーワード(5)（和/英） | powered ESD試験 / powered ESD test |
| キーワード(6)（和/英） | TLP / TLP |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中谷 透也 / Toya Nakatani / ナカタニ トオヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 矢野 佑典 / Yusuke Yano / ヤノ ユウスケ |
| 第2著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 王 建青 / Jianqing Wang / オウ ケンセイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 石田 武志 / Takeshi Ishida / タケシ イシダ |
| 第4著者 所属（和/英） | ㈱ノイズ研究所 (略称： ノイズ研) NOISE LABORATORY CO.LTD. (略称： NoiseKen) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2022-04-15 13:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2022-2 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.4 |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-04-08 (EMCJ) |
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