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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2022-04-26 13:30 静電容量センサの出力分布に着目したID生成手法に関する基礎検討 ○鍛治秀伍・太刀掛彩希・藤本大介・林 優一（奈良先端大）  HWS2022-4 |
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| 抄録 | （和） | IC内部の定電流源とA/Dコンバータにより構成された静電容量センサを用いて個体を識別することにより、外部の計測機器を用いずにプリント基板レベルの真正性を保証できる可能性が示されている。一方、静電容量センサを用いた個体識別手法は、相関値を用いた評価にとどまっておりID生成や識別性能に関しては未検討であった。そこで本稿では、静電容量センサの出力値の分布を用いたIDの生成による個体識別手法を提案する。具体的には、静電容量センサの出力値より生成されたヒストグラムから特徴点を抽出し、再現性とユニーク性が高いビットを選択することでIDを生成する。そして、事前に保存したIDと被識別対象機器から生成したIDのハミングディスタンスを計算することで同一個体を識別する。実験では、20台のマイコンボードを97.14 %の精度で個体識別できることを示す。 |
| （英） | An individual identification using a capacitance sensor configured with a constant current source and an A/D converter inside the IC shows the possibility of guaranteeing authenticity at the PCB level without external measurement equipment. However, the individual identification method had been evaluated only using correlation values of the output's histograms; the ID generation method and identification performance have not been investigated. This paper presents a method of individual identification by generating IDs using the distribution of capacitance sensor output values. Specifically, feature points are extracted from the histogram generated from the capacitance sensor output values, and ID is generated by selecting bits with high repeatability and uniqueness. Then, identify individuals by calculating the Hamming distance between the pre-stored IDs and the ID generated from the anonymous device. We used 20 microcomputer boards in the experiment, and the result showed that individual identification could be achieved with 97.14 % accuracy. | |
| キーワード | （和） | デバイス識別 / 製造ばらつき / / / / / / |
| （英） | Device identification / Process variation / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 11, HWS2022-4, pp. 19-23, 2022年4月. | |
| 資料番号 | HWS2022-4 | |
| 発行日 | 2022-04-19 (HWS) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | HWS2022-4 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS |
| 開催期間 | 2022-04-26 - 2022-04-26 |
| 開催地（和） | 産業技術総合研究所 臨海副都心センター（別館） |
| 開催地（英） | AIST Tokyo Waterfront (Annex) |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2022-04-HWS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 静電容量センサの出力分布に着目したID生成手法に関する基礎検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fundamental Study on ID Generation Method Focusing on Distribution of Capacitance Sensor Output Values |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | デバイス識別 / Device identification |
| キーワード(2)（和/英） | 製造ばらつき / Process variation |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji / カジ シュウゴ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 太刀掛 彩希 / Ayaki Tachikake / |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yuichi Hayashi / |
| 第4著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2022-04-26 13:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | HWS2022-4 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.11 |
| ページ範囲 | pp.19-23 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2022-04-19 (HWS) |
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