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講演抄録/キーワード
講演名 2022-07-29 13:25
確率的オートマトンとn-gramに基づくRNNに対するバグ限局
石本優太近藤将成鵜林尚靖亀井靖高九大SS2022-10 KBSE2022-20
抄録 (和) 近年深層学習モデルは自動運転や医療画像解析などの様々な分野で適用されている.深層学習モデルが誤動作すると,重大な事故が発生する可能性がある.この誤動作を特定し修正するために,既存研究では誤動作の原因となるモデルの構成要素(ニューロンなど)を特定し,それらを修正するアプローチが提案されてきた.しかし,これらのアプローチは入力によって変化する動的な内部状態を持つモデルであるRNN(リカレントニューラルネットワーク)には適用できない.
本研究では,RNNの誤動作の原因を特定するため,RNNから抽出した確率的オートマトン上の$n$-gramに着目したバグ限局(PAFL: Probabilistic Automaton-based Fault Localization)を提案する.PAFLは,確率的オートマトンの状態の$n$-gramを利用した疑惑値を計算することで,RNNの誤動作の原因を正確に特定できる.さらに,この疑惑値を利用することで,RNNの誤動作と強く関連するデータサンプルを抽出する手法も提案する.本研究の実験により,PAFLはランダムな選択アプローチと比較して,誤動作に強く関連するデータサンプルを統計的有意に抽出できることが示された.具体的には,予測の難しい2つのデータセット(RTMR,IMDB)において,83%の割合でPAFLはランダムに抽出したデータサンプルよりもRNNの予測精度が低いデータサンプルを抽出できる.実験結果から,PAFLはRNNのバグ限局手法として有用であることが示された. 
(英) If deep learning models misbehave, serious accidents may occur.Previous studies have proposed approaches to overcome such misbehavior by detecting and modifying the responsible faulty parts (e.g., neurons of the network) in deep learning models.However, such approaches are not applicable to deep learning models that have internal states that change dynamically based on the input data, for example, recurrent neural networks (RNNs).
To detect misbehavior RNNs, we propose PAFL, a new fault localization approach for application to RNNs.PAFL enables developers to detect faulty parts even in RNNs by computing suspiciousness scores with fault localization using $n$-grams.Furthermore, by using this suspiciousness score, PAFL can extract data strongly associated with RNN misbehavior.Compared to the random approach, PAFL can extract data that are statistically significantly more strongly associated with misbehavior.Specifically, in 83% of all experimental settings for two difficult datasets (i.e., RTMR and IMDB), PAFL can extract data that is difficult to predict of RNNs than randomly extracted data.Our experimental results show that PAFL is useful as a fault localization method for RNNs.
キーワード (和) 深層学習 / リカレントニューラルネットワーク / バグ限局 / 確率的オートマトン / n-gram / / /  
(英) deep learning / recurrent neural network / fault localization / probabilistic automaton / n-gram / / /  
文献情報 信学技報, vol. 122, no. 138, SS2022-10, pp. 55-60, 2022年7月.
資料番号 SS2022-10 
発行日 2022-07-21 (SS, KBSE) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SS2022-10 KBSE2022-20

研究会情報
研究会 SS IPSJ-SE KBSE  
開催期間 2022-07-28 - 2022-07-30 
開催地(和) 北海道自治労会館(札幌) 
開催地(英) Hokkaido-Jichiro-Kaikan (Sapporo) 
テーマ(和) ソフトウェア工学全般/知能ソフトウェア工学全般/ソフトウェアサイエンス全般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SS 
会議コード 2022-07-SS-SE-KBSE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 確率的オートマトンとn-gramに基づくRNNに対するバグ限局 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Fault Localization for RNNs Based on Probabilistic Automata and n-grams 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 深層学習 / deep learning  
キーワード(2)(和/英) リカレントニューラルネットワーク / recurrent neural network  
キーワード(3)(和/英) バグ限局 / fault localization  
キーワード(4)(和/英) 確率的オートマトン / probabilistic automaton  
キーワード(5)(和/英) n-gram / n-gram  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 石本 優太 / Yuta Ishimoto / イシモト ユウタ
第1著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 近藤 将成 / Masanari Kondo / コンドウ マサナリ
第2著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 鵜林 尚靖 / Naoyasu Ubayashi / ウバヤシ ナオヤス
第3著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 亀井 靖高 / Yasutaka Kamei / カメイ ヤスタカ
第4著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2022-07-29 13:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SS 
資料番号 SS2022-10, KBSE2022-20 
巻番号(vol) vol.122 
号番号(no) no.138(SS), no.139(KBSE) 
ページ範囲 pp.55-60 
ページ数
発行日 2022-07-21 (SS, KBSE) 


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