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講演抄録/キーワード
講演名 2022-11-29 09:40
RTL故障診断容易化設計に基づくテスト生成法
千田祐弥細川利典日大)・山崎浩二明大VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49
抄録 (和) 故障診断において,高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である.このことを実現するために,レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化設計のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法が提案されている.しかしながら,診断容易化設計が適用されたレジスタ転送レベル回路を論理合成し,スキャン設計を施して生成された論理回路に対してテスト生成を実行しても,診断容易化設計での診断分解能向上の意図が考慮されていないため,必ずしも高い診断分解能が得られるとは限らない.本論文では,診断分解能向上のために診断容易化設計が施された回路に対して診断容易化設計情報を抽出した後,その情報を用いたテスト生成法を提案し,多数の故障ペアを識別可能なテスト集合が生成されることを示す. 
(英) (Not available yet)
キーワード (和) テスト生成 / 故障診断 / レジスタ転送レベル / 構造的記号シミュレーション / 識別不能故障ペア / / /  
(英) / / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 122, no. 285, DC2022-42, pp. 43-48, 2022年11月.
資料番号 DC2022-42 
発行日 2022-11-21 (VLD, ICD, DC, RECONF) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49

研究会情報
研究会 VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM  
開催期間 2022-11-28 - 2022-11-30 
開催地(和) 金沢市文化ホール 
開催地(英)  
テーマ(和) デザインガイア2022 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2022 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2022-11-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) RTL故障診断容易化設計に基づくテスト生成法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Test Generation Merhod Based on Design for Diagnosability at RTL 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) テスト生成 /  
キーワード(2)(和/英) 故障診断 /  
キーワード(3)(和/英) レジスタ転送レベル /  
キーワード(4)(和/英) 構造的記号シミュレーション /  
キーワード(5)(和/英) 識別不能故障ペア /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 千田 祐弥 / Yuya Chida / チダ ユウヤ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ
第3著者 所属(和/英) 明治大学 (略称: 明大)
Meiji University (略称: Meiji Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2022-11-29 09:40:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 VLD2022-26, ICD2022-43, DC2022-42, RECONF2022-49 
巻番号(vol) vol.122 
号番号(no) no.283(VLD), no.284(ICD), no.285(DC), no.286(RECONF) 
ページ範囲 pp.43-48 
ページ数
発行日 2022-11-21 (VLD, ICD, DC, RECONF) 


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