講演抄録/キーワード |
講演名 |
2022-11-29 10:05
組込み自己テストにおける複数ランダムパターンレジスタント縮退故障のシード生成法 ○三浦 怜・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大) VLD2022-27 ICD2022-44 DC2022-43 RECONF2022-50 |
抄録 |
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キーワード |
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文献情報 |
信学技報, vol. 122, no. 285, DC2022-43, pp. 49-54, 2022年11月. |
資料番号 |
DC2022-43 |
発行日 |
2022-11-21 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
VLD2022-27 ICD2022-44 DC2022-43 RECONF2022-50 |
研究会情報 |
研究会 |
VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM |
開催期間 |
2022-11-28 - 2022-11-30 |
開催地(和) |
金沢市文化ホール |
開催地(英) |
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テーマ(和) |
デザインガイア2022 -VLSI設計の新しい大地- |
テーマ(英) |
Design Gaia 2022 -New Field of VLSI Design- |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
DC |
会議コード |
2022-11-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
組込み自己テストにおける複数ランダムパターンレジスタント縮退故障のシード生成法 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
A Seed Generation Method for Multiple Random Pattern Resistant Stuck-at Faults in Built-In Self-Test |
サブタイトル(英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
三浦 怜 / Rei Miura / ミウラ レイ |
第1著者 所属(和/英) |
日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
第2著者 所属(和/英) |
日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
第3著者 所属(和/英) |
京都産業大学 (略称: 京都産大)
Kyoto Sangyou University (略称: Kyoto Sangyou Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2022-11-29 10:05:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
DC |
資料番号 |
VLD2022-27, ICD2022-44, DC2022-43, RECONF2022-50 |
巻番号(vol) |
vol.122 |
号番号(no) |
no.283(VLD), no.284(ICD), no.285(DC), no.286(RECONF) |
ページ範囲 |
pp.49-54 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2022-11-21 (VLD, ICD, DC, RECONF) |