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講演抄録/キーワード
講演名 2022-12-22 16:50
[ポスター講演]半導体レーザの波長変調による擬似ヘテロダイン干渉計を用いた高周波音場測定
佐藤純平和田有司中村健太郎東工大)・松村俊之谷川理佐子パナソニックUS2022-58
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 122, no. 323, US2022-58, pp. 38-43, 2022年12月.
資料番号 US2022-58 
発行日 2022-12-15 (US) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード US2022-58

研究会情報
研究会 EA US  
開催期間 2022-12-22 - 2022-12-23 
開催地(和) サテライトキャンパスひろしま 
開催地(英) Satellite Campus Hiroshima 
テーマ(和) <音響・超音波サブソサイエティ合同研究会>応用/電気音響,超音波一般 
テーマ(英) [Joint Meeting on Acoustics and Ultrasonics Subsociety] Engineering/Electro Acoustics, Ultrasonics, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 US 
会議コード 2022-12-EA-US 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 半導体レーザの波長変調による擬似ヘテロダイン干渉計を用いた高周波音場測定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) High-frequency sound field measurement using pseudo heterodyne interferometer with a wavelength-swept semiconductor laser 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 純平 / Jumpei Sato / サトウ ジュンペイ
第1著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 有司 / Yuji Wada / ワダ ユウジ
第2著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 中村 健太郎 / Kentaro Nakamura / ナカムラ ケンタロウ
第3著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 松村 俊之 / Toshiyuki Matsumura / マツムラ トシユキ
第4著者 所属(和/英) パナソニックホールディングス(株) (略称: パナソニック)
Panasonic Holdings Corporation (略称: Panasonic)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 谷川 理佐子 / Risako Tanigawa / タニガワ リサコ
第5著者 所属(和/英) パナソニックホールディングス(株) (略称: パナソニック)
Panasonic Holdings Corporation (略称: Panasonic)
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講演者 第1著者 
発表日時 2022-12-22 16:50:00 
発表時間 120分 
申込先研究会 US 
資料番号 US2022-58 
巻番号(vol) vol.122 
号番号(no) no.323 
ページ範囲 pp.38-43 
ページ数
発行日 2022-12-15 (US) 


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