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講演抄録/キーワード
講演名 2023-02-28 11:25
故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法
千田祐弥細川利典日大)・山崎浩二明大DC2022-83
抄録 (和) 故障診断において,高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である.このことを実現するために,レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化設計のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法が提案されている.しかしながら,診断容易化設計が施された回路に対してテスト生成を実行しても,診断容易化設計での診断分解能向上の意図が考慮されていないため,必ずしも高い診断分解能が得られるとは限らない.この問題を解決するために,診断容易化設計情報を抽出し,利用したテスト生成法が提案された.本論文では,診断容易化設計情報を利用したテスト生成を実行した後,得られた識別不能故障集合に対して最大充足割当問題による識別パターン生成と等価故障解析を実行し,診断容易化設計情報を利用したテスト生成の故障診断性能を評価する. 
(英) (Not available yet)
キーワード (和) 診断テスト生成 / 故障診断 / レジスタ転送レベル / 識別不能故障ペア / Partial MAX SAT / / /  
(英) diagnostic test generation / fault diagnosis / register transfer level, / unidentifiable fault pairs / Partial Max SAT / / /  
文献情報 信学技報, vol. 122, no. 393, DC2022-83, pp. 6-11, 2023年2月.
資料番号 DC2022-83 
発行日 2023-02-21 (DC) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2022-83

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2023-02-28 - 2023-02-28 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2023-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Test Generation Method to Distinguish Multiple Fault Pairs for Improvement of Fault Diagnosis Resolution 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 診断テスト生成 / diagnostic test generation  
キーワード(2)(和/英) 故障診断 / fault diagnosis  
キーワード(3)(和/英) レジスタ転送レベル / register transfer level,  
キーワード(4)(和/英) 識別不能故障ペア / unidentifiable fault pairs  
キーワード(5)(和/英) Partial MAX SAT / Partial Max SAT  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 千田 祐弥 / Yuya Chida / チダ ユウヤ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: NIhon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: NIhon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ
第3著者 所属(和/英) 明治大学 (略称: 明大)
Meiji University (略称: Meiji Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2023-02-28 11:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2022-83 
巻番号(vol) vol.122 
号番号(no) no.393 
ページ範囲 pp.6-11 
ページ数
発行日 2023-02-21 (DC) 


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