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講演抄録/キーワード
講演名 2023-03-02 10:35
対応する局所領域の数を考慮した外観検査手法の検討
北口勝久西﨑陽平齋藤 守阪産技研PRMU2022-74 IBISML2022-81
抄録 (和) ディープラーニングを利用した正常画像のみで学習する外観検査の研究が盛んに行われている.最近は傷や汚れといった構造的異常だけでなく,部品の数や組み合わせの間違いなどの論理的異常も取り入れたデータセットも公開され,このような異常への対応も求められている.本研究では構造的異常のSOTA手法であるPatchCoreにパッチ数の整合性の考慮を追加することで論理的異常に対応させることを提案する.具体的にはテスト画像と良品画像の特徴量のヒストグラムを比較し,差異があれば異常とする.MVTec ADに論理的異常画像を追加して実験を行い提案手法の有効性を検証する. 
(英) There has been a great deal of research on appearance inspection using deep learning, which learns only from normal images. Recently, datasets incorporating not only structural anomalies such as scratches and stains, but also logical anomalies such as wrong number of parts and wrong combination of parts have been released, and there is a need to deal with such anomalies. In this study, we propose that PatchCore, a SOTA method for structural anomalies, can deal with logical anomalies by adding the consideration of consistency in the number of patches. Specifically, the histograms of the features of the test image and the good image are compared, and if there is a difference, it is considered as an anomaly. Experiments are conducted on a set of images with logical anomalies added to MVTec AD to verify the effectiveness of the proposed method.
キーワード (和) 外観検査 / 異常検知 / 深層学習 / / / / /  
(英) Visual inspection / Anomaly Detection / Deep Learning / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 122, no. 404, PRMU2022-74, pp. 88-92, 2023年3月.
資料番号 PRMU2022-74 
発行日 2023-02-23 (PRMU, IBISML) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード PRMU2022-74 IBISML2022-81

研究会情報
研究会 PRMU IBISML IPSJ-CVIM  
開催期間 2023-03-02 - 2023-03-03 
開催地(和) はこだて未来大学 
開催地(英) Future University Hakodate 
テーマ(和) 異分野連携(PRMU)、AutoML (CVIM)、機械学習の理論と応用の広がり(IBISML) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 PRMU 
会議コード 2023-03-PRMU-IBISML-CVIM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 対応する局所領域の数を考慮した外観検査手法の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Investigation of Appearance Inspection Method Considering the Number of Corresponding Local Patches 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 外観検査 / Visual inspection  
キーワード(2)(和/英) 異常検知 / Anomaly Detection  
キーワード(3)(和/英) 深層学習 / Deep Learning  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 北口 勝久 / Katsuhisa Kitaguchi / キタグチ カツヒサ
第1著者 所属(和/英) 大阪産業技術研究所 (略称: 阪産技研)
Osaka Research Institure of Industrial Science and Technology (略称: ORIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 西﨑 陽平 / Yohei Nishizaki / ニシザキ ヨウヘイ
第2著者 所属(和/英) 大阪産業技術研究所 (略称: 阪産技研)
Osaka Research Institure of Industrial Science and Technology (略称: ORIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 齋藤 守 / Mamoru Saito / サイトウ マモル
第3著者 所属(和/英) 大阪産業技術研究所 (略称: 阪産技研)
Osaka Research Institure of Industrial Science and Technology (略称: ORIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2023-03-02 10:35:00 
発表時間 10分 
申込先研究会 PRMU 
資料番号 PRMU2022-74, IBISML2022-81 
巻番号(vol) vol.122 
号番号(no) no.404(PRMU), no.405(IBISML) 
ページ範囲 pp.88-92 
ページ数
発行日 2023-02-23 (PRMU, IBISML) 


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