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講演抄録/キーワード
講演名 2023-03-14 16:15
眼瞼部形状および眼電図を用いた瞬目特性検出法の比較
鈴木悠也加納慎一郎芝浦工大MBE2022-66
抄録 (和) 瞬目はヒトの感情や覚醒度などの心理的状態を検出するために重要な信号源である.現在,瞬目の検出には眼電図を用いることが多い.しかしこの手法は電極を装着するため使用者は負担が大きいという問題があった.そこで本研究では,ビデオカメラで撮像した映像を解析することで瞬目を検出する手法において,撮像画像からの眼瞼部形状の検出能力について検討をした.また,映像記録と同時に眼電図を測定し性能を比較した. 
(英) Eye blink is an important source for detecting the mental state such as emotion and arousal level. Features of eye blinks (timing, speed, magnitude) can be easily detected by measuring EOG (electrooculogram). However, placement of electrodes is needed to measure EOG, and it restrains user’s activities during measurements. It is required to find alternative methods to detect eye blinks with less restrictions. In this study, the method to detect features of eye blink from captured images around user’s eye by using a video camera was tested, and the performances were evaluated by comparing the method using EOG measurement.
キーワード (和) 瞬目 / EAR / 眼電図 / 画像解析 / / / /  
(英) eye blink / EAR / EOG / image processing / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 122, no. 424, MBE2022-66, pp. 38-42, 2023年3月.
資料番号 MBE2022-66 
発行日 2023-03-06 (MBE) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード MBE2022-66

研究会情報
研究会 NC MBE  
開催期間 2023-03-13 - 2023-03-15 
開催地(和) 電気通信大学 
開催地(英) The Univ. of Electro-Communications 
テーマ(和) 脳アーキテクチャー, 一般(NC, ME) 
テーマ(英) Brain architecture, General 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 MBE 
会議コード 2023-03-NC-MBE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 眼瞼部形状および眼電図を用いた瞬目特性検出法の比較 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Detection of eye blink features : a comparison of using eyelid shape and electrooculogram 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 瞬目 / eye blink  
キーワード(2)(和/英) EAR / EAR  
キーワード(3)(和/英) 眼電図 / EOG  
キーワード(4)(和/英) 画像解析 / image processing  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 悠也 / Yuya Suzuki / スズキ ユウヤ
第1著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: SIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 加納 慎一郎 / Shin'ichiro Kanoh / カノウ シンイチロウ
第2著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: SIT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2023-03-14 16:15:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 MBE 
資料番号 MBE2022-66 
巻番号(vol) vol.122 
号番号(no) no.424 
ページ範囲 pp.38-42 
ページ数
発行日 2023-03-06 (MBE) 


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