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講演抄録/キーワード
講演名 2023-05-25 10:25
RF回路の不完全性を用いた異種ZigBee端末の識別
水町航汰松岡翔平小松和暉豊橋技科大)・宮路祐一愛知工大)・上原秀幸豊橋技科大RCS2023-15
抄録 (和) IoT機器の普及に伴ってセキュリティの向上が求められている.従来の通信端末の認証には,IPアドレスやMACアドレスを利用した方法があるが,アドレスの改ざんによるなりすましなどの問題がある.そこで,端末の物理的な個体差に注目し,高周波 (Radio Frequency:RF) 回路の不完全性を用いて端末を識別する手法が研究されている.先行研究では,IEEE 802.15.4に準拠した端末の一つであるDigi International社のXBee ZB (XBee) から送信された信号を測定し,RF回路の不完全性を含む特徴量を用いた識別が行われている.この研究では識別の対象として使用した端末がXBeeのみであり,他の種類の無線通信モジュールを識別の対象とした場合の有効性は示されていない.そこで本研究は同じくIEEE 802.15.4に準拠した端末であるモノワイヤレス社のTWELITE DIPから信号を測定し,端末を識別した.また,XBeeとTWELITE DIPを混在させた場合での端末識別と,XBeeかTWELITE DIPかを判断する端末識別を行い,精度を算出した. 
(英) With the spread of the Internet of Things (IoT), there is a growing demand for enhanced security. Conventional authentication methods for wireless communication use IP addresses or MAC addresses. However, these methods have vulnerability for spoofing IP addresses. In previous researches, the method to identify devices using the imperfections of radio frequency circuits has been studied. The purpose of this study is to assess the effectiveness of the device identification method suggested by previous study and to evaluate the accuracy of device identification when XBee and TWELITE DIP are mixed, and to identify whether it is XBee or TWELITE DIP.
キーワード (和) 端末識別 / 周波数オフセット / IQインバランス / / / / /  
(英) Device Identification / Frequency Offset / IQ Imbalance / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 123, no. 52, RCS2023-15, pp. 7-12, 2023年5月.
資料番号 RCS2023-15 
発行日 2023-05-18 (RCS) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード RCS2023-15

研究会情報
研究会 RCS IN NV  
開催期間 2023-05-25 - 2023-05-26 
開催地(和) 慶應大学 日吉キャンパス + オンライン開催 
開催地(英) Keio University (Hiyoshi Campus), and online 
テーマ(和) アドホック・センサネットワーク・MANET,モバイルネットワーク,M2M・IoT通信制御,無線LAN(Wi-Fi),IEEE802.15(ZigBee)及び一般 
テーマ(英) Ad-Hoc/Sensor Networks/MANET, Mobile Networks, M2M/IoT Communications, Wi-Fi, IEEE802.15(ZigBee) and others 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 RCS 
会議コード 2023-05-RCS-IN-NV 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) RF回路の不完全性を用いた異種ZigBee端末の識別 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Device Identification of Different Types of ZigBee Devices Based on RF Circuit Imperfections 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 端末識別 / Device Identification  
キーワード(2)(和/英) 周波数オフセット / Frequency Offset  
キーワード(3)(和/英) IQインバランス / IQ Imbalance  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 水町 航汰 / Kota Mizumachi / ミズマチ コウタ
第1著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Tyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 松岡 翔平 / Shohei Matsuoka / マツオカ ショウヘイ
第2著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Tyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 小松 和暉 / Kazuki Komatsu / コマツ カズキ
第3著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Tyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮路 祐一 / Yuichi Miyaji / ミヤジ ユウイチ
第4著者 所属(和/英) 愛知工業大学 (略称: 愛知工大)
Aichi Institute of Technology (略称: Aichi inst. of Tech.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 上原 秀幸 / Hideyuki Uehara / ウエハラ ヒデユキ
第5著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Tyohashi University of Technology (略称: Toyohashi Univ. of Tech.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2023-05-25 10:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 RCS 
資料番号 RCS2023-15 
巻番号(vol) vol.123 
号番号(no) no.52 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数
発行日 2023-05-18 (RCS) 


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