| 研究会情報 |
| 研究会 |
SDM |
| 開催期間 |
2023-06-26 - 2023-06-26 |
| 開催地(和) |
広島大学 ナノデバイス研究所 |
| 開催地(英) |
Hiroshima Univ. (Res. Inst. of Nanodevices) |
| テーマ(和) |
MOSデバイス・メモリ・パワーデバイス高性能化-材料・プロセス技術 (応用物理学会 シリコンテクノロジー分科会との合同開催) |
| テーマ(英) |
Material Science and Process Technology for MOS Devices, Memories, and Power Devices |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
SDM |
| 会議コード |
2023-06-SDM |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
FeナノドットへのSiH4照射がシリサイド化反応に及ぼす影響 |
| サブタイトル(和) |
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| タイトル(英) |
Impact of SiH4 exposure to Fe-NDs on silicidation reaction |
| サブタイトル(英) |
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| キーワード(1)(和/英) |
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| キーワード(2)(和/英) |
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| キーワード(3)(和/英) |
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| キーワード(4)(和/英) |
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| キーワード(5)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
斎藤 陽斗 / Haruto Saito / サイトウ ハルト |
| 第1著者 所属(和/英) |
名古屋大学 (略称: 名大)
Nagoya University (略称: Nagoya Univ.) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
牧原 克典 / Katsunori Makihara / マキハラ カツノリ |
| 第2著者 所属(和/英) |
名古屋大学 (略称: 名大)
Nagoya University (略称: Nagoya Univ.) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
谷田 駿 / Shun Tanida / タニダ シュン |
| 第3著者 所属(和/英) |
名古屋大学 (略称: 名大)
Nagoya University (略称: Nagoya Univ.) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
田岡 紀之 / Noriyuki Taoka / タオカ ノリユキ |
| 第4著者 所属(和/英) |
名古屋大学 (略称: 名大)
Nagoya University (略称: Nagoya Univ.) |
| 第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
宮﨑 誠一 / Seiichi Miyazaki / ミヤザキ セイイチ |
| 第5著者 所属(和/英) |
名古屋大学 (略称: 名大)
Nagoya University (略称: Nagoya Univ.) |
| 第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第24著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第25著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第26著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第27著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第28著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第29著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第30著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第31著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第32著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第33著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第34著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第35著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第36著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第36著者 所属(和/英) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2023-06-26 11:50:00 |
| 発表時間 |
20分 |
| 申込先研究会 |
SDM |
| 資料番号 |
SDM2023-30 |
| 巻番号(vol) |
vol.123 |
| 号番号(no) |
no.89 |
| ページ範囲 |
pp.11-14 |
| ページ数 |
4 |
| 発行日 |
2023-06-19 (SDM) |