講演抄録/キーワード |
講演名 |
2023-06-29 14:20
ガウス過程回帰に基づく結晶構造X線吸収スペクトル予測と価数比推定 ○岩下拓未・平井悠喜・小林 亮・田村友幸・烏山昌幸(名工大) NC2023-3 IBISML2023-3 |
抄録 |
(和) |
X線吸収スペクトルは結晶構造の解析に有用な実験計測技術として知られている.スペクトルデータは結晶内の原子配置の構造情報を反映したものになるため構造を知る手がかりになる.ただし,実験で得られるスペクトルは結晶内の構造を平均化したものになるため,単一の結晶内に複数の異なる局所構造が含まれる場合にそれらを切り分けることができない.そこで近年では,理論計算によるスペクトルのシミュレーション計算が可能になっており,構造モデルから計算したスペクトルを手がかりに構造解析を行うこともできるが,計算コストが非常に高く網羅的に調べられるようなものではない.そこで本研究では,電池材料であるSiOデータを例に結晶構造のスペクトル予測および価数比推定について,ガウス過程回帰に基づく方法を提案する.SiO中にはO原子のついている個数により, 0~4価までのSiが結晶内部に存在しており,この比がスペクトルの形状に影響を与えていると推論されるが,実験スペクトルからこの比を直接知ることはできない.そこでまず,シミュレーションデータを訓練データとし,価数比ごとのスペクトル予測を考える.それぞれの価数は構造的揺らぎを保つため,その揺らぎを入力の不確実と捉えたガウス過程回帰による予測分布の構築について述べる.さらに,推定された価数ごとの予測分布に基づき,実験計測された結晶全体の平均スペクトルから価数比を逆算的に推論する手法を提案する.また,計算機実験によりその有効性を確かめる. |
(英) |
X-ray absorption spectra are known as a useful experimental measurement technique for crystal structure analysis. Spectral data can provide clues to the structure of a crystal because they reflect the structural information of the arrangement of atoms in the crystal. However, since the experimentally obtained spectrum is an averaged spectrum of the crystal structure, it is not possible to separate multiple different local structures in a single crystal. Recently, simulation calculations of spectra based on theoretical calculations have become available, and structural analysis can be performed using spectra calculated from structural models, but the computational cost is very high and is not comprehensive. In this study, we propose a method based on Gaussian process regression for prediction spectrum and valence ratio estimation of crystal structure using SiO data as an example, which is a battery material. It is inferred that this ratio affects the shape of the spectrum, but this ratio cannot be directly obtained from the experimental spectrum. Therefore, we first consider the prediction spectrum for each valence ratio, using the simulation data as training data. Since each valence ratio retains structural fluctuations, we consider these fluctuations as input uncertainties and describe the construction of a prediction distribution using Gaussian process regression. Based on the estimated prediction distribution for each valence, we propose a method for inferentially inferring the valence ratio from the average spectrum of the entire crystal measured experimentally. The effectiveness of the method is verified by computer experiments. |
キーワード |
(和) |
ガウス過程回帰 / マルチタスクガウス過程回帰 / 入力不確実なガウス過程回帰 / / / / / |
(英) |
Gaussian Process Regression / Multitask Gaussian Process Regression / Input Uncertain Gaussian Process Regression / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 123, no. 91, IBISML2023-3, pp. 17-24, 2023年6月. |
資料番号 |
IBISML2023-3 |
発行日 |
2023-06-22 (NC, IBISML) |
ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
NC2023-3 IBISML2023-3 |
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