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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2023-07-06 15:50 LC/CL整合回路における寄生素子の影響 ○田中 聡・吉田 毅・藤島 実（広島大）  CAS2023-11 VLD2023-11 SIP2023-27 MSS2023-11 |
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| 抄録 | （和） | L型LC/CL整合回路は，解析解が容易に得られ，多くの高周波回路に応用されている．実際に回路を構成する際には，インダクタや容量に寄生素子が付加される．そのため，各L，C素子には自己共振周波数が存在し，整合回路の特性に影響を与える．本報告では，寄生素子としてインダクタへの並列寄生容量と容量への直列寄生インダクタを取り上げ，各素子の自己共振周波数がS11，電圧定在波比（VSWR），S21特性に与える影響の詳細を報告する．寄生素子を加えた場合，基本的には自己共振周波数の低下とともに各特性は劣化する傾向にある．しかし，興味深い特徴として，インダクタ，容量に関わらず，共振周波数の組み合わせによってVSWRや通過帯域特性が決定されることが分かった． |
| （英） | L-type LC/CL matching circuits are well known for their simple analytical solutions, and have been applied to many radio frequency (RF) circuits. When actually constructing a circuit, parasitic elements are added to inductors and capacitors. Therefore, each L and C element has a self-resonant frequency, which affects the characteristics of the matching circuit. In this paper, the parallel parasitic capacitance to the inductor and the series parasitic inductor to the capacitance are taken up as parasitic elements, and the details of the effects of the self-resonant frequency of each element on the S11, voltage standing wave ratio (VSWR) and S21 characteristics are reported. When a parasitic element is added, each characteristic basically tends to deteriorate as the self-resonant frequency decreases. However, as an interesting feature, we found that the combination of resonant frequencies determines the VSWR and passband characteristics, regardless of whether it is the inductor or the capacitor. | |
| キーワード | （和） | 整合回路 / 寄生素子 / 解析解 / LC/CL / / / / |
| （英） | Matching circuit / Parasitic element / Analytical solution / LC/CL / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 97, CAS2023-11, pp. 53-58, 2023年7月. | |
| 資料番号 | CAS2023-11 | |
| 発行日 | 2023-06-29 (CAS, VLD, SIP, MSS) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CAS2023-11 VLD2023-11 SIP2023-27 MSS2023-11 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | MSS CAS SIP VLD |
| 開催期間 | 2023-07-06 - 2023-07-07 |
| 開催地（和） | 小樽商科大学 3号館 102教室 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | CAS |
| 会議コード | 2023-07-MSS-CAS-SIP-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | LC/CL整合回路における寄生素子の影響 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Effects of Parasitic Elements on LC/CL Matching Circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 整合回路 / Matching circuit |
| キーワード(2)（和/英） | 寄生素子 / Parasitic element |
| キーワード(3)（和/英） | 解析解 / Analytical solution |
| キーワード(4)（和/英） | LC/CL / LC/CL |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田中 聡 / Satoshi Tanaka / タナカ サトシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 広島大学 (略称： 広島大) Hiroshima University (略称： Hiroshima Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉田 毅 / Takeshi Yoshida / ヨシダ タケシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島大学 (略称： 広島大) Hiroshima University (略称： Hiroshima Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤島 実 / Minoru Fujishima / フジシマ ミノル |
| 第3著者 所属（和/英） | 広島大学 (略称： 広島大) Hiroshima University (略称： Hiroshima Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2023-07-06 15:50:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | CAS |
| 資料番号 | CAS2023-11, VLD2023-11, SIP2023-27, MSS2023-11 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.97(CAS), no.98(VLD), no.99(SIP), no.100(MSS) |
| ページ範囲 | pp.53-58 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2023-06-29 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
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