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講演抄録/キーワード
講演名 2023-11-16 09:55
入力デコーダを使用したMTJ-PUFの提案と機械学習耐性の評価
菊地 拓宇佐美公良芝浦工大VLD2023-44 ICD2023-52 DC2023-51 RECONF2023-47
抄録 (和) LSIの個体認証技術の1つであるPUF(Physically Unclonable Function)は、機械学習(ML)を用いたモデリング攻撃による脆弱性の問題がある。本稿では、モデリング攻撃に対する耐性を向上させるために、製造時に生じるMTJ(Magnetic Tunnel Junction)のばらつきを使用した、入力デコーダ型MTJ-PUFを提案する。提案したMTJ-PUFに対して、多層パーセプトロン(MLP)、線形回帰(LR)、サポートベクターマシン(SVM)を用いたモデリング攻撃を行い脆弱性を評価した結果、それぞれの予測精度は理想値である50%に近い値であり、提案する入力デコーダ型MTJ-PUFはML攻撃に耐性があることが示された。 
(英) Physically Unclonable Function (PUF), one of the LSI individual authentication techniques, is vulnerable to machine learning (ML) modeling attacks. In this paper, we propose an input-decoder type MTJ-PUF that uses the variation of MTJ (Magnetic Tunnel Junction) during manufacturing to improve the resistance against modeling attacks. We evaluated the vulnerability of the proposed MTJ-PUF to modeling attacks using the multilayer perceptron (MLP), linear regression (LR), and support vector machine (SVM). Results demonstrated that the prediction accuracy of each modeling attack is close to the ideal value of 50%, indicating that the proposed input decoder MTJ-PUF is resistant to ML attack.
キーワード (和) MTJ / PUF / セキュリティ / 製造ばらつき / / / /  
(英) MTJ / PUF / Security / Manufacturing Variability / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 123, no. 258, VLD2023-44, pp. 82-87, 2023年11月.
資料番号 VLD2023-44 
発行日 2023-11-08 (VLD, ICD, DC, RECONF) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2023-44 ICD2023-52 DC2023-51 RECONF2023-47

研究会情報
研究会 VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM  
開催期間 2023-11-15 - 2023-11-17 
開催地(和) くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール 
開催地(英) Civic Auditorium Sears Home Yume Hall 
テーマ(和) デザインガイア2023 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2023 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2023-11-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 入力デコーダを使用したMTJ-PUFの提案と機械学習耐性の評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) MTJ-PUF with Input Decoder and Evaluation of Machine Learning Resistance 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) MTJ / MTJ  
キーワード(2)(和/英) PUF / PUF  
キーワード(3)(和/英) セキュリティ / Security  
キーワード(4)(和/英) 製造ばらつき / Manufacturing Variability  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 菊地 拓 / Takumi Kikuchi / キクチ タクミ
第1著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: SIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 宇佐美 公良 / Kimiyoshi Usami /
第2著者 所属(和/英) 芝浦工業大学 (略称: 芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology (略称: SIT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2023-11-16 09:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 VLD 
資料番号 VLD2023-44, ICD2023-52, DC2023-51, RECONF2023-47 
巻番号(vol) vol.123 
号番号(no) no.258(VLD), no.259(ICD), no.260(DC), no.261(RECONF) 
ページ範囲 pp.82-87 
ページ数
発行日 2023-11-08 (VLD, ICD, DC, RECONF) 


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