| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2023-11-24 16:15
位相同期回路の周波数逓倍比が暗号モジュールへの故障注入に与える影響に関する基礎検討 ○西山 輝・藤本大介・林 優一(奈良先端大) EMCJ2023-80 |
| 抄録 |
(和) |
位相同期回路(PLL)による比較動作に大きな差異が生ずるように、PLL入力クロックにグリッチを注入することで、暗号モジュールに対する故障注入が成立することが示されている。本稿では、グリッチ注入によるPLL入力の変動に対する出力の応答特性が、PLLの周波数逓倍比に依存する点に着目することで、故障注入に耐性を有するPLLを実装するためのパラメタ選択手法に関する基礎検討を行う。具体的には、同一のPLL出力周波数を生成する際に、逓倍比が異なる複数の条件に対してグリッチ注入を行った際の、PLL出力周波数の上昇値および暗号モジュールでの故障発生の有無を確認する。その結果、低い周波数逓倍比のPLLを用いた場合、出力周波数の上昇値が抑制されるとともに、故障発生が観測されなかったことから、故障注入に耐性を有することが確認された。 |
| (英) |
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| キーワード |
(和) |
故障利用攻撃 / クロックグリッチ / 位相同期回路 / 意図的電磁妨害 / / / / |
| (英) |
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| 文献情報 |
信学技報, vol. 123, no. 283, EMCJ2023-80, pp. 46-50, 2023年11月. |
| 資料番号 |
EMCJ2023-80 |
| 発行日 |
2023-11-17 (EMCJ) |
| ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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