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講演抄録/キーワード
講演名 2023-11-24 16:15
位相同期回路の周波数逓倍比が暗号モジュールへの故障注入に与える影響に関する基礎検討
西山 輝藤本大介林 優一奈良先端大EMCJ2023-80
抄録 (和) 位相同期回路(PLL)による比較動作に大きな差異が生ずるように、PLL入力クロックにグリッチを注入することで、暗号モジュールに対する故障注入が成立することが示されている。本稿では、グリッチ注入によるPLL入力の変動に対する出力の応答特性が、PLLの周波数逓倍比に依存する点に着目することで、故障注入に耐性を有するPLLを実装するためのパラメタ選択手法に関する基礎検討を行う。具体的には、同一のPLL出力周波数を生成する際に、逓倍比が異なる複数の条件に対してグリッチ注入を行った際の、PLL出力周波数の上昇値および暗号モジュールでの故障発生の有無を確認する。その結果、低い周波数逓倍比のPLLを用いた場合、出力周波数の上昇値が抑制されるとともに、故障発生が観測されなかったことから、故障注入に耐性を有することが確認された。 
(英) (Not available yet)
キーワード (和) 故障利用攻撃 / クロックグリッチ / 位相同期回路 / 意図的電磁妨害 / / / /  
(英) / / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 123, no. 283, EMCJ2023-80, pp. 46-50, 2023年11月.
資料番号 EMCJ2023-80 
発行日 2023-11-17 (EMCJ) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2023-80

研究会情報
研究会 EMCJ  
開催期間 2023-11-24 - 2023-11-24 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan 
テーマ(和) 若手研究者発表会 
テーマ(英) Young Scientist Meeting 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2023-11-EMCJ 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 位相同期回路の周波数逓倍比が暗号モジュールへの故障注入に与える影響に関する基礎検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Fundamental Study on the Influence of Frequency Multiplication Ratio of Phase-Locked loop on Fault Injection into Cryptographic Modules 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 故障利用攻撃 /  
キーワード(2)(和/英) クロックグリッチ /  
キーワード(3)(和/英) 位相同期回路 /  
キーワード(4)(和/英) 意図的電磁妨害 /  
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キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 西山 輝 / Hikaru Nishiyama / ニシヤマ ヒカル
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ
第2著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 林 優一 / Yuichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2023-11-24 16:15:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 EMCJ2023-80 
巻番号(vol) vol.123 
号番号(no) no.283 
ページ範囲 pp.46-50 
ページ数
発行日 2023-11-17 (EMCJ) 


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