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講演抄録/キーワード
講演名 2023-11-28 10:25
MOSFETの寄生容量を考慮したハイサイドゲートドライバ回路におけるチャタリング現象の解析と実験的検証
後藤裕介中京大)・麻原寛之岡山理科大)・高坂拓司中京大)・伊藤大輔岐阜大NLP2023-60
抄録 (和) MOSFETの寄生容量を考慮した簡素なハイサイドゲートドライバ回路におけるチャタリング現象について明らかにする.
まず,本研究で用いるハイサイドゲートドライバ回路の構成と振る舞いを説明する.
次に,MOSFETを等価回路に置き換えたハイサイドゲートドライバ回路の回路方程式を導出し,変数変換を行う.
最後に,得られた回路方程式を離散化し,離散写像を用いて本回路の数学的解析および実験的検証を行う. 
(英) (Not available yet)
キーワード (和) チャタリング / ハイサイドゲートドライバ / MOSFET / / / / /  
(英) / / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 123, no. 287, NLP2023-60, pp. 7-10, 2023年11月.
資料番号 NLP2023-60 
発行日 2023-11-21 (NLP) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード NLP2023-60

研究会情報
研究会 NLP  
開催期間 2023-11-28 - 2023-11-29 
開催地(和) 名護市産業支援センター 
開催地(英) Nago city commerce and industry association 
テーマ(和) NLP, 一般 
テーマ(英) NLP, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 NLP 
会議コード 2023-11-NLP 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) MOSFETの寄生容量を考慮したハイサイドゲートドライバ回路におけるチャタリング現象の解析と実験的検証 
サブタイトル(和)  
タイトル(英)  
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) チャタリング /  
キーワード(2)(和/英) ハイサイドゲートドライバ /  
キーワード(3)(和/英) MOSFET /  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 後藤 裕介 / Yusuke Goto / ゴトウ ユウスケ
第1著者 所属(和/英) 中京大学 (略称: 中京大)
Chukyo University (略称: Chukyo Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 麻原 寛之 / Hiroyuki Asahara / アサハラ ヒロユキ
第2著者 所属(和/英) 岡山理科大学 (略称: 岡山理科大)
Okayama University of Science (略称: Okayama Univ. of Science)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 高坂 拓司 / Takuji Kousaka / コウサカ タクジ
第3著者 所属(和/英) 中京大学 (略称: 中京大)
Chukyo University (略称: Chukyo Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊藤 大輔 / Daisuke Ito / イトウ ダイスケ
第4著者 所属(和/英) 岐阜大学 (略称: 岐阜大)
Gifu University (略称: Gifu Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2023-11-28 10:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 NLP 
資料番号 NLP2023-60 
巻番号(vol) vol.123 
号番号(no) no.287 
ページ範囲 pp.7-10 
ページ数
発行日 2023-11-21 (NLP) 


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