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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-01-25 15:50 遮断周波数を基準にしたチップ素子及び導体パターンのばらつきに強い高周波ダイプレクサの設計に関する一検討 ○中田祥太郎・和田光司（電通大）  CAS2023-95 ICTSSL2023-48 |
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| 抄録 | （和） | 本検討では,LPF(Low Pass Filter) 及び HPF(High Pass Filter) がチップ素子及び導体パターンで構成されたダイプレクサについてロバスト設計を行い,チップ素子及び導体パターンのばらつきによる遮断周波数のばらつきが小さくなるダイプレクサの条件について調査を行った.ダイプレクサにチップ素子及び導体パターンがよく用いられる.しかしながら,チップ素子及び導体パターンのばらつきにより所望の結果が得られないことがある.そこで,本検討ではあらかじめばらつきを考慮した設計法として品質工学におけるロバスト設計をダイプレクサの設計に適用した.また,チップ素子及び導体パターンのばらつきによる遮断周波数のばらつきが小さくなるダイプレクサの条件を導出し,初期条件との比較を行った. |
| （英） | In this study, the diplexer composed of LPF (Low Pass Filter) and HPF (High Pass Filter) using chip elements and conductor patterns are robustly designed. The conditions for the diplexer with small cutoff frequency variations due to variations in chip elements and conductor patterns are also studied. Chip elements and conductor patterns are frequently used in diplexers. However, the desired results are sometimes not obtained due to variations in chip elements and conductor patterns. Therefore, the robust design method in quality engineering is applied to diplexer design as the design method that considers the advanced variations. The condition for the diplexer with small cutoff frequency variation due to variations in the chip element and conductor patterns is determined and compared with the initial condition. | |
| キーワード | （和） | ロバスト設計 / 品質工学 / ダイプレクサ / チップ素子 / 導体パターン / / / |
| （英） | Robust design / Diplexer / Quality engineering / Chip element / Conductor pattern / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 361, CAS2023-95, pp. 60-65, 2024年1月. | |
| 資料番号 | CAS2023-95 | |
| 発行日 | 2024-01-18 (CAS, ICTSSL) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CAS2023-95 ICTSSL2023-48 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICTSSL CAS |
| 開催期間 | 2024-01-25 - 2024-01-26 |
| 開催地（和） | 東海大学（湘南キャンパス） |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 学生セッション・一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | CAS |
| 会議コード | 2024-01-ICTSSL-CAS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 遮断周波数を基準にしたチップ素子及び導体パターンのばらつきに強い高周波ダイプレクサの設計に関する一検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Design of high-frequency diplexer robust to variations in chip elements and conductor patterns based on cutoff frequency |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ロバスト設計 / Robust design |
| キーワード(2)（和/英） | 品質工学 / Diplexer |
| キーワード(3)（和/英） | ダイプレクサ / Quality engineering |
| キーワード(4)（和/英） | チップ素子 / Chip element |
| キーワード(5)（和/英） | 導体パターン / Conductor pattern |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中田 祥太郎 / Shotaro Nakata / ナカタ ショウタロウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 電気通信大学 (略称： 電通大) The University of Electro-Communications (略称： UEC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 光司 / Koji Wada / ワダ コウジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 電気通信大学 (略称： 電通大) The University of Electro-Communications (略称： UEC) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-01-25 15:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | CAS |
| 資料番号 | CAS2023-95, ICTSSL2023-48 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.361(CAS), no.362(ICTSSL) |
| ページ範囲 | pp.60-65 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2024-01-18 (CAS, ICTSSL) |
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