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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-02-28 13:15 近似乗算器の過剰テスト緩和のためのテスト生成に関する考察 ○王 麒霖・市原英行・井上智生（広島市大）  DC2023-97 |
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| 抄録 | （和） | 本論文では近似演算回路に対する過剰テスト緩和について議論する． 誤り訂正機構を有し，アプリケーションの要求に応じて誤差補正度を設計できる近似乗算器を対象とする． 許容故障の検出を抑えながら全ての非許容故障を検出できるテスト集合を生成するアルゴリズムを提案し、 そのアルゴリズムを用いて，近似乗算器の誤り補正能力と過剰テスト緩和との関係を解析する． |
| （英） | In this study, we discuss the alleviation of over-testing for approximate circuits. We target a design of approximate multipliers with recovery schemes whose ability of error recovery can be designed according to the requirement of its application. We present an algorithm for generating test-patterns that can detect all the unacceptable faults with keeping the number of acceptable faults detected accidentally small. By applying this test generation algorithm, we analyze the relationship between the design of approximate multipliers with recovery schemes and the over-testing alleviation (or effective yield enhancement). |
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| キーワード | （和） | エラートレラント・アプリケーション(ETA) / 許容故障 / 過剰テスト緩和 / テスト生成 / 実効歩留まり / / / |
| （英） | Error-tolerant application (ETA) / acceptable faults / alleviating over-testing / test generation / effective yield / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 123, no. 389, DC2023-97, pp. 17-22, 2024年2月. | |
| 資料番号 | DC2023-97 | |
| 発行日 | 2024-02-21 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2023-97 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2024-02-28 - 2024-02-28 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2024-02-DC |
| 本文の言語 | 英語（日本語タイトルあり） |
| タイトル（和） | 近似乗算器の過剰テスト緩和のためのテスト生成に関する考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on Test Generation for Alleviating Over-testing of Approximate Multipliers |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | エラートレラント・アプリケーション(ETA) / Error-tolerant application (ETA) |
| キーワード(2)（和/英） | 許容故障 / acceptable faults |
| キーワード(3)（和/英） | 過剰テスト緩和 / alleviating over-testing |
| キーワード(4)（和/英） | テスト生成 / test generation |
| キーワード(5)（和/英） | 実効歩留まり / effective yield |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 王 麒霖 / Qilin Wang / ワン チンリン |
| 第1著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-02-28 13:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2023-97 |
| 巻番号（vol） | vol.123 |
| 号番号（no） | no.389 |
| ページ範囲 | pp.17-22 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2024-02-21 (DC) |
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