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講演抄録/キーワード
講演名 2024-04-19 16:00
入出力回路からのバックスキャッタリングを用いた経年劣化検出手法に関する基礎検討
鍛治秀伍奈良先端大)・衣川昌宏福知山公立大)・藤本大介林 優一奈良先端大HWS2024-4
抄録 (和) 半導体素子の偽造や複製、再利用などのフェイクチップがサプライチェーンの信用を脅かしている。なかでも、廃棄基板などから剥離したICが再利用されるリサイクルICは機能の違いなどから排除を行うことが困難であるため、経年劣化などの物理量に着目したフェイクチップの検出手法が求められている。こうした要求に応じて、これまでICの経年劣化を非侵襲的に検出する手法として、バックスキャッタリングを利用した手法が提案されている。しかし、同手法ではIC近傍での計測が必要であることから、機器の開封が困難な場合には経年劣化の検出が難しくなる可能性がある。そこで本稿では、IC近傍での計測が不要な経年劣化の検出手法として、ICの経年劣化に伴うI/O回路の電気的な特性の変化をバックスキャッタリングにより計測し、機器外部から経年劣化を検出できることを示した。実験では、FPGAのコア電源に対して過電圧を与え、加速試験の前後で計測されたバックスキャッタに含まれる周波数成分に差異が生ずることを示し、ICの経年劣化を検出できることを明らかにした。 
(英) (Not available yet)
キーワード (和) 経年劣化検出 / 電磁照射 / Echo TEMPEST / / / / /  
(英) / / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 124, no. 6, HWS2024-4, pp. 14-17, 2024年4月.
資料番号 HWS2024-4 
発行日 2024-04-12 (HWS) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード HWS2024-4

研究会情報
研究会 HWS  
開催期間 2024-04-19 - 2024-04-19 
開催地(和) 三菱電機(株) 東京ビル26階 ダイヤモンドプラザR 
開催地(英)  
テーマ(和) ハードウェアセキュリティ,一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 HWS 
会議コード 2024-04-HWS 
本文の言語 日本語(英語タイトルなし) 
タイトル(和) 入出力回路からのバックスキャッタリングを用いた経年劣化検出手法に関する基礎検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英)  
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 経年劣化検出 /  
キーワード(2)(和/英) 電磁照射 /  
キーワード(3)(和/英) Echo TEMPEST /  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鍛治 秀伍 / / カジ シュウゴ
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
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第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 衣川 昌宏 / / キヌガワ マサヒロ
第2著者 所属(和/英) 福知山公立大学 (略称: 福知山公立大)
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第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤本 大介 / / フジモト ダイスケ
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
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第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 林 優一 / / ハヤシ ユウイチ
第4著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
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講演者 第1著者 
発表日時 2024-04-19 16:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 HWS 
資料番号 HWS2024-4 
巻番号(vol) vol.124 
号番号(no) no.6 
ページ範囲 pp.14-17 
ページ数
発行日 2024-04-12 (HWS) 


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