| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2024-04-19 16:00
入出力回路からのバックスキャッタリングを用いた経年劣化検出手法に関する基礎検討 ○鍛治秀伍(奈良先端大)・衣川昌宏(福知山公立大)・藤本大介・林 優一(奈良先端大) HWS2024-4 |
| 抄録 |
(和) |
半導体素子の偽造や複製、再利用などのフェイクチップがサプライチェーンの信用を脅かしている。なかでも、廃棄基板などから剥離したICが再利用されるリサイクルICは機能の違いなどから排除を行うことが困難であるため、経年劣化などの物理量に着目したフェイクチップの検出手法が求められている。こうした要求に応じて、これまでICの経年劣化を非侵襲的に検出する手法として、バックスキャッタリングを利用した手法が提案されている。しかし、同手法ではIC近傍での計測が必要であることから、機器の開封が困難な場合には経年劣化の検出が難しくなる可能性がある。そこで本稿では、IC近傍での計測が不要な経年劣化の検出手法として、ICの経年劣化に伴うI/O回路の電気的な特性の変化をバックスキャッタリングにより計測し、機器外部から経年劣化を検出できることを示した。実験では、FPGAのコア電源に対して過電圧を与え、加速試験の前後で計測されたバックスキャッタに含まれる周波数成分に差異が生ずることを示し、ICの経年劣化を検出できることを明らかにした。 |
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| キーワード |
(和) |
経年劣化検出 / 電磁照射 / Echo TEMPEST / / / / / |
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| 文献情報 |
信学技報, vol. 124, no. 6, HWS2024-4, pp. 14-17, 2024年4月. |
| 資料番号 |
HWS2024-4 |
| 発行日 |
2024-04-12 (HWS) |
| ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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