| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-06-07 15:00 マイクロサービスアーキテクチャにおける疑似障害を用いた信頼性テスト技術 ○西 佑介・田口学豊（日立）  SC2024-4 |
|
| 抄録 | （和） | 近年、リソースの有効活用や障害の局所化、サービス改修の容易化などの観点から、マイクロサービスアーキテクチャを利用したシステム開発が普及しつつある。しかし、マイクロサービスアーキテクチャの導入により、機能やデータが細粒度化・分散化する傾向にあり、監視やテストにおいてより高度な設計が求められる。本稿では、疑似障害を意図的に発生させ、システムの脆弱性を発見するカオスエンジニアリングの手法を用いた、マイクロサービス状態に基づく信頼性テスト設計効率化手法について提案すると共に、有効性について評価した結果を報告する。 |
| （英） | In recent years, system development using microservice architecture has become increasingly popular from the perspectives of effective resource utilisation, fault localisation and easier service modification. However, the introduction of microservice architecture tends to make functions and data more fine-grained and distributed, requiring more advanced design in monitoring and testing. In this paper, we propose an efficient method for designing reliability tests based on microservice states using the chaos engineering method, which intentionally generates pseudo-faults to discover system vulnerabilities, and report the results of an evaluation of the effectiveness of the proposal method. | |
| キーワード | （和） | マイクロサービス / 非機能テスト / 信頼性テスト / 疑似障害 / / / / |
| （英） | Microservices / non-functional testing / reliability testing / pseudo-failures / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 71, SC2024-4, pp. 19-24, 2024年6月. | |
| 資料番号 | SC2024-4 | |
| 発行日 | 2024-05-31 (SC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SC2024-4 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SC |
| 開催期間 | 2024-06-07 - 2024-06-08 |
| 開催地（和） | 会津大学 |
| 開催地（英） | Univ. of Aizu |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SC |
| 会議コード | 2024-06-SC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | マイクロサービスアーキテクチャにおける疑似障害を用いた信頼性テスト技術 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Reliability testing techniques using pseudo-failures in microservice architectures |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | マイクロサービス / Microservices |
| キーワード(2)（和/英） | 非機能テスト / non-functional testing |
| キーワード(3)（和/英） | 信頼性テスト / reliability testing |
| キーワード(4)（和/英） | 疑似障害 / pseudo-failures |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西 佑介 / Yusuke Nishi / ニシ ユウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社 日立製作所 (略称： 日立) Hitachi, Ltd. (略称： Hitachi) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田口 学豊 / Gakuho Taguchi / タグチ ガクホ |
| 第2著者 所属（和/英） | 株式会社 日立製作所 (略称： 日立) Hitachi, Ltd. (略称： Hitachi) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-06-07 15:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | SC |
| 資料番号 | SC2024-4 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.71 |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2024-05-31 (SC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]