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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-08-08 09:50 完全故障検出効率と完全診断分解能を両立するテストパターン置換法 ○青野竜弥・細川利典（日大）・吉村正義（京産大）・山崎浩二（明大）  CPSY2024-17 DC2024-17 RECONF2024-17 |
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| 抄録 | （和） | 故障診断に用いるテスト集合は，高故障検出効率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である．これを実現するために，診断テスト生成手法が提案されている．その手法は，高故障検出効率を達成する初期テスト集合で未識別な故障ペアを識別する診断パターンを生成し，テスト集合に追加する．しかしながら，診断パターンを追加することによるテストパターン数の増大が課題となっている．この問題を解決するために，本論文では診断分解能向上に比較的寄与していないテストパターンを，故障検出効率を維持しながら診断分解能を向上させるテストパターンに置換する手法を提案する．ISCAS’89ベンチマーク回路の実験結果は，平均14.8%のテストパターン数の増加で完全故障検出効率と完全診断分解能を達成できたことを示す． |
| （英） | It is important that the test set used for fault diagnosis has high the fault efficiency and is able to distinguish a large number of fault pairs. To achieve this, diagnostic test generation methods have been proposed. The methods generate diagnostic patterns for fault fairs undistinguished with an initial test set that achieves the high fault efficiency and add the generated diagnostic patterns to the initial test set. However, the increase in the number of test patterns caused by adding diagnostic patterns is a problem. To solve this problem, this paper proposes a method to replace test patterns that contribute relatively little to improving diagnostic resolution with test patterns that improve diagnostic resolution while maintaining the fault efficiency. Experimental results for ISCAS'89 benchmark circuits show that both complete the fault efficiency and complete diagnostic resolution were achieved with an increase in the number of test patterns of 14.8% on average. | |
| キーワード | （和） | テストパターン置換 / 診断テスト生成 / 必須識別故障ペア / 診断分解能 / / / / |
| （英） | test pattern replacement / diagnostic pattern generation / essential distinguishable fault pairs / diagnosis resolution / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 149, DC2024-17, pp. 5-10, 2024年8月. | |
| 資料番号 | DC2024-17 | |
| 発行日 | 2024-07-31 (CPSY, DC, RECONF) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2024-17 DC2024-17 RECONF2024-17 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY DC RECONF IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2024-08-07 - 2024-08-09 |
| 開催地（和） | あわぎんホール |
| 開催地（英） | Awagin Hall |
| テーマ（和） | SWoPP2024: 並列／分散／協調システムとディペンダブルコンピューティングおよび一般 |
| テーマ（英） | SWoPP2024: Parallel, Distributed and Cooperative Processing Systems and Dependable Computing |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2024-08-CPSY-DC-RECONF-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 完全故障検出効率と完全診断分解能を両立するテストパターン置換法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Test Pattern Replacement Method to Achieve Both Complete Fault Efficiency and Complete Diagnosis Resolution |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テストパターン置換 / test pattern replacement |
| キーワード(2)（和/英） | 診断テスト生成 / diagnostic pattern generation |
| キーワード(3)（和/英） | 必須識別故障ペア / essential distinguishable fault pairs |
| キーワード(4)（和/英） | 診断分解能 / diagnosis resolution |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 青野 竜弥 / Tatsuya Aono / アオノ タツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサノリ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都産業大学 (略称： 京産大) Kyoto Sangyo University (略称： Kyoto Sangyo Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-08-08 09:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2024-17, DC2024-17, RECONF2024-17 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.148(CPSY), no.149(DC), no.150(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.5-10 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2024-07-31 (CPSY, DC, RECONF) |
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