| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-11-01 15:15 統計故障解析における1bit-faultモデルの有効性の検討 ○林 俊吾（産総研/横浜国大）・坂本純一・西山 輝・松本 勉（産総研）  HWS2024-68 ICD2024-39 |
|
| 抄録 | （和） | CHES2018で提案されたStatistical Ineffective Fault Analysis (SIFA)は，フォールト注入時に得られるエラーのない暗号文のみを使用するフォールト攻撃である．SIFAとその派生方式は検算対策を回避できる反面，鍵解析に必要な暗号文が集まる前に多数の誤り暗号文が検知されるという問題がある．そこで本研究は1ビット誤りモデルでの誤り注入を想定し，より少ない暗号化回数と誤り検出回数で鍵解析が可能な手法を提案し，シミュレーションと実験により提案手法の有効性を評価する．シミュレーションの結果，提案手法は1ビットのフォールトを仮定した場合において平均150回の暗号化で鍵を特定した．さらに，クロックグリッチを用いた実験により，提案手法が従来手法よりも少ない暗号化回数と少ない誤り検出回数で鍵を特定できる場合があることを確認した． |
| （英） | Statistical Ineffective Fault Analysis (SIFA), proposed in CHES2018, is a fault attack that uses only error-free ciphertext obtained during fault injection. While SIFA and its derivatives can avoid countermeasures by Duplication, they have the problem that a large number of error ciphertexts are detected before the ciphertexts necessary for key analysis are collected. Then, we propose a method that enables key analysis with less faulty encryptions and detections of faults, assuming fault injection in a 1bit fault model. We evaluate the effectiveness of the proposed method through simulations and experiments. Simulation results show that the proposed method can identify the correct key with an average of 150 encryptions under the assumption of a 1bit fault. Furthermore, experiments with clock glitches show that in some cases the proposed method can identify the key with fewer encryptions and fewer error detections than the conventional method. | |
| キーワード | （和） | フォールト攻撃 / クロックグリッチ / SIFA / SEFA / AES / / / |
| （英） | fault injection attack / clock glitch / SIFA / SEFA / AES / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 229, HWS2024-68, pp. 32-37, 2024年11月. | |
| 資料番号 | HWS2024-68 | |
| 発行日 | 2024-10-25 (HWS, ICD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | HWS2024-68 ICD2024-39 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS ICD |
| 開催期間 | 2024-11-01 - 2024-11-01 |
| 開催地（和） | 弘前大学(創立50周年記念会館) |
| 開催地（英） | Hirosaki University |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2024-11-HWS-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 統計故障解析における1bit-faultモデルの有効性の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on the Effectiveness of 1bit-fault Model in Statistical Fault Analysis |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | フォールト攻撃 / fault injection attack |
| キーワード(2)（和/英） | クロックグリッチ / clock glitch |
| キーワード(3)（和/英） | SIFA / SIFA |
| キーワード(4)（和/英） | SEFA / SEFA |
| キーワード(5)（和/英） | AES / AES |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 俊吾 / Shungo Hayashi / ハヤシ シュンゴ |
| 第1著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所/横浜国立大学 (略称： 産総研/横浜国大) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology/Yokohama National University (略称： AIST/YNU) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坂本 純一 / Junichi Sakamoto / サカモト ジュンイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西山 輝 / Hikaru Nishiyama / ニシヤマ ヒカル |
| 第3著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto / マツモト ツトム |
| 第4著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-11-01 15:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | HWS2024-68, ICD2024-39 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.229(HWS), no.230(ICD) |
| ページ範囲 | pp.32-37 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2024-10-25 (HWS, ICD) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]