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| 講演名 | 2024-11-01 16:05 電磁的故障注入攻撃によるチップ内部電圧応答とデジタル回路故障の評価 ○長谷川陸宇・門田和樹・弘原海拓也・三木拓司・永田 真（神戸大）  HWS2024-70 ICD2024-41 |
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| 抄録 | （和） | ICチップが取り扱う情報は位置情報、生体情報といった個人情報など多岐にわたっており、そのような秘匿性の高い情報は保護が求められる。通常、保護が求められる情報を処理・通信する際には情報を数学的に安全性が証明された暗号アルゴリズムを用いて暗号化することによってその秘匿性を保障している。しかし、そのような暗号アルゴリズムであってもハードウェアとして回路に実装することによって生じる脆弱性を利用した物理攻撃によってその安全性を危殆化することが可能であることが知られている。本稿では、様々存在する攻撃手法の中でも電磁的故障注入攻撃を対象とし評価を行った。チップ内部電圧応答解析では電圧モニタ回路であるオンチップモニタ回路を用いて電磁波照射時のチップ内部の電源配線における電圧変動の様子とその分布について解析を行った。デジタル回路故障評価では、暗号回路の暗号化処理中に電磁波照射を行い回路の動作に故障が生じるかを評価した。 |
| （英） | The information handled by IC chips encompasses a wide range of data, and it is imperative to ensure the protection of such highly confidential data. Typically, when processing or communicating sensitive information that requires protection, confidentiality is ensured by encrypting the data using crypto algorithms whose security has been mathematically proven. However, it is known that even such crypto algorithms can be compromised through physical attacks that exploit vulnerabilities arising from the implementation of these algorithms in hardware circuits. In this paper, we focus on electromagnetic fault injection attacks (EMFI), one of the various attack methods, and conduct an evaluation. For the voltage fluctuation analysis, we used an on-chip monitor circuit (OCM), to analyze the voltage fluctuations and their distribution in the power supply lines inside the chip when exposed to electromagnetic radiation. In the evaluation of digital circuit faults, we examined whether faults occurred in the operation of crypto circuits when electromagnetic radiation was applied during the encryption process. Furthermore, we investigated the relationship between voltage responses and digital circuit faults. | |
| キーワード | （和） | 電磁的故障注入攻撃 / 暗号回路 / AES / オンチップモニタ回路 / / / / |
| （英） | Electromagnetic fault injection / Crypto circuit / AES / On-chip monitor circuit / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 229, HWS2024-70, pp. 44-47, 2024年11月. | |
| 資料番号 | HWS2024-70 | |
| 発行日 | 2024-10-25 (HWS, ICD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | HWS2024-70 ICD2024-41 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS ICD |
| 開催期間 | 2024-11-01 - 2024-11-01 |
| 開催地（和） | 弘前大学(創立50周年記念会館) |
| 開催地（英） | Hirosaki University |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2024-11-HWS-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電磁的故障注入攻撃によるチップ内部電圧応答とデジタル回路故障の評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of Chip Internal Voltage Fluctuation and Digital Circuit Faults Induced by Electromagnetic Fault Injection Attacks |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電磁的故障注入攻撃 / Electromagnetic fault injection |
| キーワード(2)（和/英） | 暗号回路 / Crypto circuit |
| キーワード(3)（和/英） | AES / AES |
| キーワード(4)（和/英） | オンチップモニタ回路 / On-chip monitor circuit |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 陸宇 / Rikuu Hasegawa / ハセガワ リクウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 門田 和樹 / Kazuki Monta / モンタ カズキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 弘原海 拓也 / Takuya Wadatsumi / ワダツミ タクヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三木 拓司 / Takuji Miki / ミキ タクジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第5著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-11-01 16:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | HWS2024-70, ICD2024-41 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.229(HWS), no.230(ICD) |
| ページ範囲 | pp.44-47 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2024-10-25 (HWS, ICD) |
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