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講演抄録/キーワード
講演名 2024-11-07 14:50
Autoencoderとマハラノビス距離を利用した分割電柱に対する劣化診断
古屋直樹岩月栄治小塚晃透岩田隆弘愛工大)・豊田昌弘本多電子)・津田紀生愛工大US2024-56
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 124, no. 235, US2024-56, pp. 26-29, 2024年11月.
資料番号 US2024-56 
発行日 2024-10-31 (US) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード US2024-56

研究会情報
研究会 US  
開催期間 2024-11-07 - 2024-11-07 
開催地(和) 愛知工業大学 本山キャンパス 
開催地(英) AICHI INSTITUTE OF TECHNOLOGY Univ 
テーマ(和) 超音波一般 
テーマ(英) Ultrasonics, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 US 
会議コード 2024-11-US 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) Autoencoderとマハラノビス距離を利用した分割電柱に対する劣化診断 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Deterioration diagnosis for split poles using Autoencoder and Mahalanobis distance 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 古屋 直樹 / Naoki Furuya / フルヤ ナオキ
第1著者 所属(和/英) 愛知工業大学 (略称: 愛工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩月 栄治 / Eiji Iwatsuki / イワツキ エイジ
第2著者 所属(和/英) 愛知工業大学 (略称: 愛工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 小塚 晃透 / Teruyuki Kozuka / コヅカ テルユキ
第3著者 所属(和/英) 愛知工業大学 (略称: 愛工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩田 隆弘 / Takahiro Iwata / イワタ タカヒロ
第4著者 所属(和/英) 愛知工業大学 (略称: 愛工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 豊田 昌弘 / Masahiro Toyoda / トヨダ マサヒロ
第5著者 所属(和/英) 本多電子株式会社 (略称: 本多電子)
Honda Electronics.Co.Ltd (略称: Honda El)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 津田 紀生 / Norio Tsuda / ツダ ノリオ
第6著者 所属(和/英) 愛知工業大学 (略称: 愛工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2024-11-07 14:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 US 
資料番号 US2024-56 
巻番号(vol) vol.124 
号番号(no) no.235 
ページ範囲 pp.26-29 
ページ数
発行日 2024-10-31 (US) 


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