| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2024-11-07 14:00
[招待講演]パワーデバイスにおけるモールドエポキシ樹脂のTCADシミュレーションモデリング ○玉城朋宏・海老原洪平・小西和也・岸本幸樹・曽根田真也・高橋徹雄・新田哲也・綿引達郎(三菱電機)・李 根三(日本シノプシス) SDM2024-57 |
| 抄録 |
(和) |
パワーデバイス製品において、高電圧に対する長期信頼性は重要な要件の一つである。本研究では、この長期信頼性にモールド樹脂封止材がどのような影響を及ぼすかを予測するための樹脂モデルの構築に取り組んだ。電極からモールド樹脂へ注入された電荷がパワー半導体チップの終端構造の表面電位を変化させ、信頼性不良を引き起こす可能性について、シミュレーションを用いて検討した結果を報告する。 |
| (英) |
Long-term reliability against high voltages is a critical requirement for power device products. In this study, we have developed a resin model to simulate the impact of mold resin encapsulant on long-term reliability, and report on our simulation study of the possibility that electric charges injected into the mold resin from electrodes could alter the surface potential of the termination region of power semiconductor chips, leading to reliability failures. This paper presents the results of our comprehensive simulation study. |
| キーワード |
(和) |
パワーデバイス / 信頼性 / 封止 / 樹脂 / 電荷注入 / TCAD / シミュレーション / |
| (英) |
power device / reliability / encapsulation / resin / charge injection / TCAD / simulation / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 124, no. 242, SDM2024-57, pp. 10-15, 2024年11月. |
| 資料番号 |
SDM2024-57 |
| 発行日 |
2024-10-31 (SDM) |
| ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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