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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-11-08 14:40 ［招待講演］機械学習によるMOSFET閾値電圧の離散不純物起因ばらつきの統計的な解析 ○関 翔太・長田圭一・髙石将輝・笠原亮太郎（アイクリスタル）・沓掛健太朗・宇治原 徹（名大）  SDM2024-63 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 242, SDM2024-63, pp. 34-37, 2024年11月. | |
| 資料番号 | SDM2024-63 | |
| 発行日 | 2024-10-31 (SDM) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SDM2024-63 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SDM |
| 開催期間 | 2024-11-07 - 2024-11-08 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 5階 5S-2 会議室 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 |
| テーマ（英） | Process, Device, Circuit simulation, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SDM |
| 会議コード | 2024-11-SDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 機械学習によるMOSFET閾値電圧の離散不純物起因ばらつきの統計的な解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Statistic analysis of threshold voltage variations of MOSFET caused by discrete impurities by machine learning |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
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| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 関 翔太 / Shota Seki / セキ ショウタ |
| 第1著者 所属（和/英） | アイクリスタル株式会社 (略称： アイクリスタル) Aixtal (略称： Aixtal) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長田 圭一 / Keiichi Osada / オサダ ケイイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | アイクリスタル株式会社 (略称： アイクリスタル) Aixtal (略称： Aixtal) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 髙石 将輝 / Masaki Takaishi / タカイシ マサキ |
| 第3著者 所属（和/英） | アイクリスタル株式会社 (略称： アイクリスタル) Aixtal (略称： Aixtal) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 笠原 亮太郎 / Ryotaro Kasahara / カサハラ リョウタロウ |
| 第4著者 所属（和/英） | アイクリスタル株式会社 (略称： アイクリスタル) Aixtal (略称： Aixtal) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 沓掛 健太朗 / Kentaro Kutsukake / クツカケ ケンタロウ |
| 第5著者 所属（和/英） | 名古屋大学 (略称： 名大) Nagoya University (略称： Nagoya Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宇治原 徹 / Toru Ujihara / ウジハラ トオル |
| 第6著者 所属（和/英） | 名古屋大学 (略称： 名大) Nagoya University (略称： Nagoya Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-11-08 14:40:00 |
| 発表時間 | 50分 |
| 申込先研究会 | SDM |
| 資料番号 | SDM2024-63 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.242 |
| ページ範囲 | pp.34-37 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2024-10-31 (SDM) |
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