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講演抄録/キーワード
講演名
2024-11-08 10:30
[招待講演]ミリケルビン温度での特性評価に基づくクライオCMOS動作の理解
○
岡 博史
・
浅井栄大
・
稲葉 工
・
下方駿佑
・
由井 斉
・
更田裕司
・
飯塚将太
・
加藤公彦
・
中山隆史
・
森 貴洋
(
産総研
)
SDM2024-59
抄録
(和)
(まだ登録されていません)
(英)
(Not available yet)
キーワード
(和)
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(英)
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文献情報
信学技報, vol. 124, no. 242, SDM2024-59, pp. 20-21, 2024年11月.
資料番号
SDM2024-59
発行日
2024-10-31 (SDM)
ISSN
Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
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SDM2024-59
研究会情報
研究会
SDM
開催期間
2024-11-07 - 2024-11-08
開催地(和)
機械振興会館 5階 5S-2 会議室
開催地(英)
テーマ(和)
プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般
テーマ(英)
Process, Device, Circuit simulation, etc.
講演論文情報の詳細
申込み研究会
SDM
会議コード
2024-11-SDM
本文の言語
日本語
タイトル(和)
ミリケルビン温度での特性評価に基づくクライオCMOS動作の理解
サブタイトル(和)
タイトル(英)
Understanding the Cryogenic-CMOS Operation by Milli-Kelvin Temperature Characterization
サブタイトル(英)
キーワード(1)(和/英)
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キーワード(2)(和/英)
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キーワード(3)(和/英)
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キーワード(4)(和/英)
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キーワード(5)(和/英)
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キーワード(6)(和/英)
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キーワード(7)(和/英)
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キーワード(8)(和/英)
/
第1著者 氏名(和/英/ヨミ)
岡 博史
/
Hiroshi Oka
/
オカ ヒロシ
第1著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ)
浅井 栄大
/
Hidehiro Asai
/
アサイ ヒデヒロ
第2著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ)
稲葉 工
/
Takumi Inaba
/
イナバ タクミ
第3著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ)
下方 駿佑
/
Shunsuke Shitakata
/
シタカタ シュンスケ
第4著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ)
由井 斉
/
Hitoshi Yui
/
ユイ ヒトシ
第5著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ)
更田 裕司
/
Hiroshi Fuketa
/
フケタ ヒロシ
第6著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ)
飯塚 将太
/
Shota Iizuka
/
イイズカ ショウタ
第7著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ)
加藤 公彦
/
Kimihiko Kato
/
カトウ キミヒコ
第8著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ)
中山 隆史
/
Takashi Nakayama
/
ナカヤマ タカシ
第9著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ)
森 貴洋
/
Takahiro Mori
/
モリ タカヒロ
第10著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第11著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第11著者 所属(和/英)
(略称: )
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第12著者 所属(和/英)
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第13著者 所属(和/英)
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第14著者 所属(和/英)
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第15著者 所属(和/英)
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第16著者 所属(和/英)
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第17著者 所属(和/英)
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第18著者 所属(和/英)
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第19著者 所属(和/英)
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第20著者 所属(和/英)
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第21著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第21著者 所属(和/英)
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第22著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第22著者 所属(和/英)
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第23著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第23著者 所属(和/英)
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第24著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第24著者 所属(和/英)
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第25著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第25著者 所属(和/英)
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第26著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第26著者 所属(和/英)
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第27著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第27著者 所属(和/英)
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第28著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第28著者 所属(和/英)
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第29著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第29著者 所属(和/英)
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第30著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第31著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第32著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第32著者 所属(和/英)
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第33著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第33著者 所属(和/英)
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第34著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第34著者 所属(和/英)
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第35著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第35著者 所属(和/英)
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第36著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第36著者 所属(和/英)
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講演者
第1著者
発表日時
2024-11-08 10:30:00
発表時間
50分
申込先研究会
SDM
資料番号
SDM2024-59
巻番号(vol)
vol.124
号番号(no)
no.242
ページ範囲
pp.20-21
ページ数
2
発行日
2024-10-31 (SDM)
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