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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-11-08 14:35 Buffer層を用いたSTJ検出器の基板ノイズ低減に関する研究 ○中村 雄・藤井 剛（産総研）・野口剛志（埼玉大）・志岐成友（産総研）・田井野 徹（埼玉大）  SCE2024-4 |
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| 抄録 | （和） | 超伝導トンネル接合(STJ)検出器は、X線分光分析において従来の半導体検出器などに対して非常に高いエネルギー分解能を有し、次世代半導体等の研究開発に応用することが期待されている。本研究では、STJで課題となっている基板ノイズ低減に効果があることが分かっているBuffer層の、ノイズ低減メカニズムの解明を指針として、複数のエネルギーのX線を照射し比較を行った。 |
| （英） | Superconducting tunnel junction (STJ) detectors have extremely high energy resolution in X-ray spectroscopic analysis compared to conventional semiconductor detectors, and are expected to be applied to research and development of next-generation semiconductors and other devices. In this study, we compared the noise reduction mechanism of the Buffer layer, which is known to be effective in reducing substrate noise, an issue in STJs, by irradiating the Buffer layer with X-rays of multiple energies. | |
| キーワード | （和） | STJ / X線検出器 / Buffer層 / 材料分析 / / / / |
| （英） | STJ / X-ray Detector / Buffer layer / Material Analysis / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 243, SCE2024-4, pp. 1-3, 2024年11月. | |
| 資料番号 | SCE2024-4 | |
| 発行日 | 2024-11-01 (SCE) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SCE2024-4 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
| 開催期間 | 2024-11-08 - 2024-11-09 |
| 開催地（和） | 東北大学 電気通信研究所 |
| 開催地（英） | RIEC, Tohoku Univ. |
| テーマ（和） | 超伝導エレクトロニクス一般 |
| テーマ（英） | Superconducting Electronics |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SCE |
| 会議コード | 2024-11-SCE |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | Buffer層を用いたSTJ検出器の基板ノイズ低減に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on Substrate Noise Reduction of STJ Detectors Using Buffer Layers |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | STJ / STJ |
| キーワード(2)（和/英） | X線検出器 / X-ray Detector |
| キーワード(3)（和/英） | Buffer層 / Buffer layer |
| キーワード(4)（和/英） | 材料分析 / Material Analysis |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中村 雄 / Yu Nakamura / ナカムラ ユウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤井 剛 / Go Fujii / フジイ ゴウ |
| 第2著者 所属（和/英） | 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 野口 剛志 / Tsuyoshi Noguchi / ノグチ ツヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 志岐 成友 / Shigetomo Shiki / シキ シゲトモ |
| 第4著者 所属（和/英） | 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田井野 徹 / Tohru Taino / タイノ トオル |
| 第5著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-11-08 14:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | SCE |
| 資料番号 | SCE2024-4 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.243 |
| ページ範囲 | pp.1-3 |
| ページ数 | 3 |
| 発行日 | 2024-11-01 (SCE) |
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