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講演抄録/キーワード
講演名 2024-11-08 11:20
[招待講演]ニューラルネットワークモデルを活用した極低温デバイスモデリングの省力化
稲葉 工千足勇介小倉 実浅井栄大更田裕司岡 博史飯塚将太加藤公彦下方駿佑森 貴洋産総研SDM2024-60
抄録 (和) クライオCMOS集積回路の設計に不可欠な極低温動作MOSFETのデバイスモデルパラメータ抽出の省力化に向け、ニューラルネットワークモデルを活用したデバイスモデルパラメータの自動抽出を行った。自動抽出では、転移学習モデルを用いた未計測データの予測、生成モデルを用いたデバイスモデルパラメータの推定、および最小二乗法を用いた微調整を行った。 
(英) Automated device model parameter extraction for cryogenic MOSFETs was examined. Transfer learning neural network model was used for predicting unmeasured data, reducing time and cost for laborious cryogenic measurements. Generative neural network model was then used to provide model parameters from cryogenic MOSFETs characteristics predicted by the transfer learning neural network model. The model parameters predicted by the generative model was finally finetuned by the conventional least-squares metho without falling local minimum during the optimization.
キーワード (和) クライオCMOS / デバイスモデリング / ニューラルネットワーク / / / / /  
(英) Cryo-CMOS / Compact Modeling / Neural Network / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 124, no. 242, SDM2024-60, pp. 22-25, 2024年11月.
資料番号 SDM2024-60 
発行日 2024-10-31 (SDM) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2024-60

研究会情報
研究会 SDM  
開催期間 2024-11-07 - 2024-11-08 
開催地(和) 機械振興会館 5階 5S-2 会議室 
開催地(英)  
テーマ(和) プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 
テーマ(英) Process, Device, Circuit simulation, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2024-11-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ニューラルネットワークモデルを活用した極低温デバイスモデリングの省力化 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Automation of Cryogenic Device Modeling Utilizing Neural Networks 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) クライオCMOS / Cryo-CMOS  
キーワード(2)(和/英) デバイスモデリング / Compact Modeling  
キーワード(3)(和/英) ニューラルネットワーク / Neural Network  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 稲葉 工 / Takumi Inaba / イナバ タクミ
第1著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 千足 勇介 / Yusuke Chiashi / チアシ ユウスケ
第2著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 小倉 実 / Minoru Ogura / オグラ ミノル
第3著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 浅井 栄大 / Hidehiro Asai / アサイ ヒデヒロ
第4著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 更田 裕司 / Hiroshi Fuketa / フケタ ヒロシ
第5著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡 博史 / Hiroshi Oka / オカ ヒロシ
第6著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 飯塚 将太 / Shota Iizuka / イイヅカ ショウタ
第7著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 加藤 公彦 / Kimihiko Kato / カトウ キミヒコ
第8著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 下方 駿佑 / Shunsuke Shitakata / シタカタ シュンスケ
第9著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) 森 貴洋 / Takahiro Mori / モリ タカヒロ
第10著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2024-11-08 11:20:00 
発表時間 50分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 SDM2024-60 
巻番号(vol) vol.124 
号番号(no) no.242 
ページ範囲 pp.22-25 
ページ数
発行日 2024-10-31 (SDM) 


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