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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-11-09 09:55 様々な線幅を有するNbTiN超伝導単一光子検出器の検出効率及び暗計数の特性評価 ○羽石朋寛（東北大）・藪野正裕（NICT）・沓間弘樹（東北大）・三木茂人（NICT）・山下太郎（東北大）  SCE2024-10 |
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| 抄録 | （和） | 線幅0.1 µmから30 µm を有するNbTiN超伝導単一光子検出器に対し, NbTiN薄膜の物性評価及び波長1550 nmの光子に対する検出効率及び暗計数率の線幅依存性を系統的に評価した. 全ての線幅の検出器において単一光子検出が確認され, 検出効率の飽和傾向が観測された. また, 線幅が増加するにつれて, スイッチング電流が対破壊電流から乖離する傾向や, 暗計数が対破壊電流に対してより小さなバイアス電流で発生することが明らかとなった. |
| （英） | We evaluated the physical properties of NbTiN thin films and systematically investigated the dependence of detection efficiency and dark count rate on linewidth for NbTiN superconducting strip photon detectors with linewidths ranging from 0.1 µm to 30 µm at a wavelength of 1550 nm. Single photon detection and a saturation trend in detection efficiency were observed for all detector linewidths. Additionally, as the linewidth increased, the switching current trended to deviate from the depairing current, and dark counts occurred at lower bias current relative to the depairing current. | |
| キーワード | （和） | 超伝導単一光子検出器 / 対破壊電流 / 超伝導薄膜 / / / / / |
| （英） | Superconducting strip photon detector / depairing current / superconducting thin film / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 243, SCE2024-10, pp. 23-26, 2024年11月. | |
| 資料番号 | SCE2024-10 | |
| 発行日 | 2024-11-01 (SCE) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SCE2024-10 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
| 開催期間 | 2024-11-08 - 2024-11-09 |
| 開催地（和） | 東北大学 電気通信研究所 |
| 開催地（英） | RIEC, Tohoku Univ. |
| テーマ（和） | 超伝導エレクトロニクス一般 |
| テーマ（英） | Superconducting Electronics |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SCE |
| 会議コード | 2024-11-SCE |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 様々な線幅を有するNbTiN超伝導単一光子検出器の検出効率及び暗計数の特性評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of detection efficiency and dark count rate of NbTiN superconducting single-photon detectors with various linewidths |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 超伝導単一光子検出器 / Superconducting strip photon detector |
| キーワード(2)（和/英） | 対破壊電流 / depairing current |
| キーワード(3)（和/英） | 超伝導薄膜 / superconducting thin film |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 羽石 朋寛 / Tomohiro Haneishi / ハネイシ トモヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藪野 正裕 / Masahiro Yabuno / ヤブノ マサヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 国立研究開発法人 情報通信研究機構 (略称： NICT) National Institute of Information and Communications Technology (略称： NICT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 沓間 弘樹 / Hiroki Kutsuma / クツマ ヒロキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三木 茂人 / Shigehito Miki / ミキ シゲヒト |
| 第4著者 所属（和/英） | 国立研究開発法人 情報通信研究機構 (略称： NICT) National Institute of Information and Communications Technology (略称： NICT) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山下 太郎 / Taro Yamashita / ヤマシタ タロウ |
| 第5著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-11-09 09:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | SCE |
| 資料番号 | SCE2024-10 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.243 |
| ページ範囲 | pp.23-26 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2024-11-01 (SCE) |
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