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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-11-12 16:25 SNU耐性を持つ不揮発性フリップフロップの設計 ○高橋京太郎・難波一輝（千葉大）  VLD2024-40 ICD2024-58 DC2024-62 RECONF2024-70 |
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| 抄録 | （和） | 近年, VLSI は微細化によってソフトエラー発生率が増加している. ソフトエラーとは, α線や中性子 線が回路内部のトランジスタに衝突することによって起こる一時的なエラーのことである. 近年の研究では, ソフ トエラー耐性を持つ様々なフリップフロップが提案されてきた. しかし, 一般的にソフトエラー耐性を持つ回路は 回路面積が大きくなり, 消費電力も大きくなる. そこで, 不揮発性メモリである MTJ にデータを一時退避させるこ とによって消費電力を抑える手法がある. また, 先行研究として高橋尚悟らの論文では, DICE フリップフロップと MTJ 素子を用いて, SNU 耐性を持つ不揮発性フリップフロップが提案されている. しかし, SNU 耐性が十分ではな いという問題点があった. そこで, 本論文では, 高橋尚悟らの手法に改良を加えて, より高い SNU 耐性を持つ不揮 発性フリップフロップを設計する. |
| （英） | In recent years, the soft error rate in VLSI has been increasing due to miniaturization. Soft errors are temporary errors caused by alpha or neutron rays striking transistors in the circuit. In recent years, various flip-flops with soft error tolerance have been proposed. However, in general, circuits with soft-error tolerance require a larger circuit area and consume more power. Therefore, there is a method to reduce power consumption by temporarily storing data in MTJs, which are nonvolatile memories. In a previous study, Shogo Takahashi et al. proposed a SNU-resistant nonvolatile Flip-Flop using a DICE flip-flop and an MTJ device. However, there was a problem that the SNU tolerance was not sufficient. In this paper, we design a nonvolatile Flip-Flop with higher SNU tolerance by modifying the method of Shogo TAKAHASHI et al. | |
| キーワード | （和） | SNU(Single Node Upset) / ソフトエラー / MTJ / / / / / |
| （英） | SNU(Single Node Upset) / Soft Error / MTJ / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 249, DC2024-62, pp. 79-83, 2024年11月. | |
| 資料番号 | DC2024-62 | |
| 発行日 | 2024-11-05 (VLD, ICD, DC, RECONF) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2024-40 ICD2024-58 DC2024-62 RECONF2024-70 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2024-11-12 - 2024-11-14 |
| 開催地（和） | コンパルホール(大分) |
| 開催地（英） | COMPAL HALL |
| テーマ（和） | デザインガイア2024 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2024 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2024-11-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | SNU耐性を持つ不揮発性フリップフロップの設計 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Design of SNU-tolerant non-volatile Flip-Flop |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | SNU(Single Node Upset) / SNU(Single Node Upset) |
| キーワード(2)（和/英） | ソフトエラー / Soft Error |
| キーワード(3)（和/英） | MTJ / MTJ |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 京太郎 / Kyotaro Takahashi / タカハシ キョウタロウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 難波 一輝 / Kazuteru Namba / ナンバ カズテル |
| 第2著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-11-12 16:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2024-40, ICD2024-58, DC2024-62, RECONF2024-70 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.247(VLD), no.248(ICD), no.249(DC), no.250(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.79-83 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2024-11-05 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
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