| 研究会情報 |
| 研究会 |
R |
| 開催期間 |
2024-11-30 - 2024-11-30 |
| 開催地(和) |
豊岡市民交流プラザ 市民活動室C・D |
| 開催地(英) |
Toyooka Creative Community Plaza |
| テーマ(和) |
半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 |
| テーマ(英) |
Reliability of semiconductor and electronic devices, Reliability general |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
R |
| 会議コード |
2024-11-R |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
確率微分方程式モデルを教師データとした深層学習に基づくOSS信頼性評価法 |
| サブタイトル(和) |
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| タイトル(英) |
A Method of OSS Reliability Assessment Based on Deep Learning Considering the Stochastic Differential Equation Model of Training Data |
| サブタイトル(英) |
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| キーワード(1)(和/英) |
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| キーワード(2)(和/英) |
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| キーワード(3)(和/英) |
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| キーワード(4)(和/英) |
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| キーワード(6)(和/英) |
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| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
田村 慶信 / Yoshinobu Tamura / タムラ ヨシノブ |
| 第1著者 所属(和/英) |
山口大学 (略称: 山口大)
Yamaguchi University (略称: Yamaguchi Univ.) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
宮本 翔一郎 / Shoichiro Miyamoto / ミヤモト ショウイチロウ |
| 第2著者 所属(和/英) |
山口大学 (略称: 山口大)
Yamaguchi University (略称: Yamaguchi Univ.) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
周 蕾 / Lei Zhou / シュウ ライ |
| 第3著者 所属(和/英) |
山口大学 (略称: 山口大)
Yamaguchi University (略称: Yamaguchi Univ.) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
山田 茂 / Shigeru Yamada / ヤマダ シゲル |
| 第4著者 所属(和/英) |
鳥取大学 (略称: 鳥取大)
Tottori University (略称: Tottori Univ.) |
| 第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第26著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第27著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第29著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第30著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第31著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第32著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第33著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第34著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第35著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第36著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2024-11-30 13:20:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
R |
| 資料番号 |
R2024-35 |
| 巻番号(vol) |
vol.124 |
| 号番号(no) |
no.282 |
| ページ範囲 |
pp.11-16 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2024-11-23 (R) |