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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2024-12-06 14:00 k時間展開モデルを用いたランダムパターンレジスタント故障のシード生成法 ○曽根隆暢・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）  DC2024-98 |
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| 抄録 | （和） | 近年，超大規模集積回路の大規模化により，多量化したテストパターンをテスタに保存することは非現実的になっている．組込み自己テスト(Built-In Self-Test: BIST)はシードから擬似ランダムパターンを生成することで超大規模集積回路の自己テストを可能にしている．しかしながら，擬似ランダムパターンを用いたテストでは，ランダムパターンレジスタント故障の存在により，テスト生成ツール(Automatic Test Pattern Generator: ATPG)で生成した決定的なテストパターンと同等の故障検出率を得ることは困難である．ランダムパターンレジスタント故障の検出に有効なシードを生成する手法として，リシード技術に基づく擬似ブール最適化を用いた複数ランダムパターンレジスタント故障のシード生成法が提案されている．本論文では，リシード後のkサイクルテストで複数目標故障を検出するシード生成法を提案する．k時間展開モデルを用いて，すべてのRPR故障を検出するために必要なシード数を評価する．予備実験では，2時間展開モデルと1時間展開モデルのハイブリッドシード生成法が有効である可能性を示した．実験結果では，提案したハイブリッドシード生成法が一部の回路において，1時間展開モデルと比較してシード数を削減できたことを示す． |
| （英） | In recent years, with high density of very large-scale integrated circuits (VLSIs), it has become impractical to store a large number of test patterns in an automatic test equipment. Built-In Self-Test (BIST) enables self-testing of VLSIs by generating pseudo-random patterns from seeds. However, since random pattern resistant faults exist, in testing using pseudo-random patterns, it is difficult to obtain the same fault coverage as the testing using deterministic test patterns generated by an automatic test pattern generator (ATPG). As an effective method to generate seeds which detect random pattern resistant faults, a seed generation method for multiple random pattern resistant faults using pseudo Boolean optimization based on reseeding technique has been proposed. In this paper, we propose a seed generation method for k-cycles testing after reseeding to detect multiple target faults. Using a k-time expansion model, we evaluate the number of seeds to detect all RPR faults. Preliminary experiments showed that a hybrid seed generation method combining a 2-time expansion model and a 1-time expansion model might be effective. Experimental results showed that the proposed hybrid seed generation method was able to reduce the number of seeds for some circuits compared to the 1-time expansion model. | |
| キーワード | （和） | 組込み自己テスト / ランダムパターンレジスタント故障 / シード生成 / k時間展開モデル / / / / |
| （英） | Built-In Self-Test(BIST) / random pattern resistant faults / seed generation / k-time expansion models / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 294, DC2024-98, pp. 1-6, 2024年12月. | |
| 資料番号 | DC2024-98 | |
| 発行日 | 2024-11-29 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2024-98 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2024-12-06 - 2024-12-06 |
| 開催地（和） | ふれあい広場・サザンクロス（別府） |
| 開催地（英） | Southern Cross Community Square |
| テーマ（和） | Winter Workshop on Safety（安全性に関する冬のワークショップ） 安全性、その他一般 |
| テーマ（英） | Winter Workshop on Safety |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2024-12-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | k時間展開モデルを用いたランダムパターンレジスタント故障のシード生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Multiple Target Seed Generation Method for Random Pattern Resistant Faults Using k-Time Expansion Models |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込み自己テスト / Built-In Self-Test(BIST) |
| キーワード(2)（和/英） | ランダムパターンレジスタント故障 / random pattern resistant faults |
| キーワード(3)（和/英） | シード生成 / seed generation |
| キーワード(4)（和/英） | k時間展開モデル / k-time expansion models |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 曽根 隆暢 / Takanobu Sone / ソネ タカノブ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都産業大学 (略称： 京都産大) Kyoto Sangyo University (略称： Kyoto Sangyo Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2024-12-06 14:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2024-98 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.294 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2024-11-29 (DC) |
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