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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2025-01-24 11:00 ITU-T国際標準規格に基づく小型加速器中性子源を用いた通信システムソフトエラー耐力試験法 ○田島公博・青木 治・服部光男・星野拓哉・小林隆一（NTT-AT）  EMCJ2024-102 |
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| 抄録 | （和） | 高速通信ネットワークに用いられる高機能，高性能の通信システムは小型化や省電力化が強く求められており，半導体デバイスの更なる高集積化が進んでいる．高集積化の進展に伴い，宇宙線由来の中性子線が引き起こすソフトエラーへのシステムレベルでの評価，対策が課題となっている．本稿では，NTT 研究所で開発ならびにITU-T 国際標準化された技術を用いた通信システムソフトエラー耐力試験法について解説する． |
| （英） | There is a strong demand for miniaturization and power saving in high-performance, high-performance communication systems used in high-speed communication networks, and semiconductor devices are becoming more and more highly integrated. As integration progresses, system-level evaluation and countermeasures against soft errors caused by neutrons from cosmic rays have become an issue. This paper describes a soft error tolerance test method for communication systems that uses technology developed by NTT laboratories and internationally standardized by the ITU-T. |
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| キーワード | （和） | 通信システム / ソフトエラー試験法 / 中性子照射試験 / 故障率 / FIT / / / |
| （英） | Telecommunication system / soft error testing method / neutron irradiation test / failure rate, / FIT / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 343, EMCJ2024-102, pp. 56-59, 2025年1月. | |
| 資料番号 | EMCJ2024-102 | |
| 発行日 | 2025-01-16 (EMCJ) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2024-102 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2025-01-23 - 2025-01-24 |
| 開催地（和） | 高知県教育会館 高知城ホール（高知市） |
| 開催地（英） | Kochijo Holl |
| テーマ（和） | EMC一般 |
| テーマ（英） | EMC |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2025-01-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ITU-T国際標準規格に基づく小型加速器中性子源を用いた通信システムソフトエラー耐力試験法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Soft error testing method for telecommunication systems using a compact accelerator-driven neutron source based on ITU-T international standards |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 通信システム / Telecommunication system |
| キーワード(2)（和/英） | ソフトエラー試験法 / soft error testing method |
| キーワード(3)（和/英） | 中性子照射試験 / neutron irradiation test |
| キーワード(4)（和/英） | 故障率 / failure rate, |
| キーワード(5)（和/英） | FIT / FIT |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田島 公博 / Kimihiro Tajima / タジマ キミヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | NTTアドバンステクノロジ (略称： NTT-AT) NTT Advanced Technology Corporation (略称： NTT-AT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 青木 治 / Osamu Aoki / アオキ オサム |
| 第2著者 所属（和/英） | NTTアドバンステクノロジ (略称： NTT-AT) NTT Advanced Technology Corporation (略称： NTT-AT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 服部 光男 / Mitsuo Hattori / ハットリ ミツオ |
| 第3著者 所属（和/英） | NTTアドバンステクノロジ (略称： NTT-AT) NTT Advanced Technology Corporation (略称： NTT-AT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 星野 拓哉 / Takuya Hoshino / ホシノ タクヤ |
| 第4著者 所属（和/英） | NTTアドバンステクノロジ (略称： NTT-AT) NTT Advanced Technology Corporation (略称： NTT-AT) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 隆一 / Ryuichi Kobayashi / |
| 第5著者 所属（和/英） | NTTアドバンステクノロジ (略称： NTT-AT) NTT Advanced Technology Corporation (略称： NTT-AT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2025-01-24 11:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2024-102 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.343 |
| ページ範囲 | pp.56-59 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2025-01-16 (EMCJ) |
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